[发明专利]一种低弯曲薄片单晶硅太阳电池烧结工艺有效
申请号: | 200810060641.0 | 申请日: | 2008-04-15 |
公开(公告)号: | CN101262028A | 公开(公告)日: | 2008-09-10 |
发明(设计)人: | 杨德仁;孙振华;朱鑫;汪雷 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人: | 韩介梅 |
地址: | 310027*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 弯曲 薄片 单晶硅 太阳电池 烧结 工艺 | ||
技术领域
本发明涉及薄片单晶硅太阳电池烧结工艺,特别是低弯曲薄片单晶硅太阳电池烧结工艺,属于太阳能应用领域。
背景技术
目前,晶体硅仍然是最主要的太阳电池材料,市场份额在90%左右。由于硅材料供应十分紧张,价格不断上涨,电池生产成本的50%以上来自于硅材料。减薄硅片是电池生产厂商降低生产成本的主要手段之一,太阳电池用单晶硅片的厚度已经在200μm左右,并正在向150μm或更薄发展。现用的单晶硅太阳电池的基本生产工艺为:清洗去损伤层、制绒面、扩磷、周边刻蚀,PECVD沉积SiNx减反射层、丝网印刷前后电极和铝浆、最后是烧结。目前的烧结工艺是在链式烧结炉中进行,整个烧结过程分烘干段、烧结段和冷却段,每段设定不同的温度和不同长度。此种烧结工艺,升温速率慢,烧结时基本以恒定速率升温,且在烧结的最高温度有保温过程。由于硅片厚度的减薄,如果仍然延用现在的电池片烧结工艺,在烧结过程中,电池片会发生严重弯曲。弯曲的电池片在后续工艺中容易破碎,降低了成品率,从而也增加了生产成本。对现有的太阳电池烧结工艺进行改进以减小电池片弯曲,是薄片电池发展的重要方面。
发明内容
本发明的目的是提供一种低弯曲薄片单晶硅太阳电池烧结工艺,以解决薄片丝印单晶硅太阳电池在烧结过程中出现的弯曲问题,从而提高成品率和降低电池生产成本。
本发明的低弯曲薄片单晶硅太阳电池烧结工艺,包括以下步骤:
将印刷有前后电极和铝浆的硅片放入快速热处理炉(RTP)中,在含氧气体积为22%-50%的富氧空气下,首先在100℃-400℃温度下烘烤40s-120s,随后以10℃-30℃/s的升温速率升温到300℃-650℃,再以50℃/s-120℃/s的升温速率升温到700℃-900℃,随即以40℃/s-120℃/s的速率降温到室温。
上述烧结工艺所用的硅片为原生厚度为150-220μm的单晶硅片。
本发明的有益效果在于:本发明烧结是在RTP炉中富氧气氛下进行,依次经烘烤、分阶段不同升温速率升温、快速冷却,烧结过程不保温,因此烧结过程短,减小了能耗。该工艺可以在大规模丝印单晶硅太阳电池生产工艺上应用。经过该烧结工艺烧结后得到的电池片的弯曲度小于1mm,电池效率可以达到15%以上。从而能有效减小后续测试和组件封装时的破碎率,降低电池生产成本,有利于太阳电池的发展。
具体实施方式
实施例1:
将印刷有前后电极和铝浆的硅片放入RTP中烧结,烧结气氛采用含氧气体积百分含量30%的富氧空气,先在100℃下烘烤120s,随后以20℃/s的升温速率升温到650℃,再以70℃/s的速率升温到800℃,随即以80℃/s的速率降温到室温。本例采用的硅片为原生厚度为200μm的单晶硅片,铝浆印刷厚度约为30μm。烧结得到的12.5cm×12.5cm的单片单晶硅太阳电池的转换效率为15.3%,弯曲度为0.9mm。
实施例2:
将印刷有前后电极和铝浆的硅片放入RTP中烧结,烧结气氛采用含氧气体积百分含量25%的富氧空气,先在400℃下烘烤40s,随后以30℃/s的升温速率升温到450℃,再以120℃/s的速率升温到850℃,随即以120℃/s的速率降温到室温。本例采用的硅片为原生厚度为180μm的单晶硅片,铝浆印刷厚度约为25μm。烧结后得到的12.5cm×12.5cm的单片单晶硅太阳电池的转换效率为15.0%,弯曲度为0.8mm。
实施例3:
将印刷有前后电极和铝浆的硅片放入RTP中烧结,烧结气氛采用含氧气体积百分含量45%的富氧空气,先在400℃下烘烤100s,随后以10℃/s的升温速率升温到300℃,再以100℃/s的速率升温到900℃,随即以40℃/s的速率降温到室温。本例采用的硅片为原生厚度为160μm的单晶硅片,铝浆印刷厚度约为20μm。烧结后得到的12.5cm×12.5cm的单片单晶硅太阳电池的转换效率为15.0%,弯曲度为0.9mm。
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H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的