[发明专利]谷物颗粒硬度测定方法及其硬度测定仪有效
申请号: | 200810056345.3 | 申请日: | 2008-01-17 |
公开(公告)号: | CN101487782A | 公开(公告)日: | 2009-07-22 |
发明(设计)人: | 郝伟 | 申请(专利权)人: | 北京东孚久恒仪器技术有限公司 |
主分类号: | G01N3/42 | 分类号: | G01N3/42;G01N15/10 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 赵燕力 |
地址: | 100037北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 谷物 颗粒 硬度 测定 方法 及其 | ||
1.一种谷物颗粒硬度测定方法,其特征在于:在两个具有一定间距平行设置且分别由传动机构驱动而作相向转动的第一轧辊与第二轧辊之间置入谷物颗粒,由两轧辊对谷物颗粒进行碾压,所述第一轧辊设置在一基座上,第二轧辊设置在一支撑座上,该支撑座摆动地固定在所述基座上,通过力传感器感应第二轧辊所受的反作用力,或该支撑座通过悬臂测力传感器或通过扭矩传感器固定在所述基座上,通过悬臂测力传感器或通过扭矩传感器感应第二轧辊所受的反作用力,以此计算出谷物颗粒的硬度值。
2.如权利要求1所述的谷物颗粒硬度测定方法,其特征在于:在测定时,是将多个单颗谷物颗粒依次逐粒送入两轧辊之间的间隙中。
3.如权利要求2所述的谷物颗粒硬度测定方法,其特征在于:所述间隙有一轧距调节装置,可根据不同谷物颗粒的粒径预先进行轧距调节。
4.一种谷物颗粒硬度测定仪,其特征在于:所述硬度测定仪包括一基座,所述基座上设有一第一轧辊;一支撑座通过至少一个力传感器固定在基座上,所述支撑座上与第一轧辊相对位置设置一第二轧辊,两轧辊分别由传动机构驱动而作相向转动。
5.如权利要求4所述的谷物颗粒硬度测定仪,其特征在于:所述力传感器为悬臂测力传感器。
6.如权利要求4所述的谷物颗粒硬度测定仪,其特征在于:所述力传感器为扭矩传感器。
7.一种谷物颗粒硬度测定仪,其特征在于:所述硬度测定仪包括一基座,所述基座上设有一第一轧辊;一支撑座能摆动地设置在所述基座上,所述支撑座上与第一轧辊相对位置设置一第二轧辊,两轧辊分别由传动机构驱动而作相向转动;所述基座与支撑座之间至少设有一力传感器。
8.如权利要求7所述的谷物颗粒硬度测定仪,其特征在于:所述力传感器为拉力传感器。
9.如权利要求7所述的谷物颗粒硬度测定仪,其特征在于:所述力传感器为压力传感器。
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