[发明专利]一种译码方法、装置和编译码系统有效

专利信息
申请号: 200810042617.4 申请日: 2008-09-04
公开(公告)号: CN101409565A 公开(公告)日: 2009-04-15
发明(设计)人: 方冬梅 申请(专利权)人: 上海华为技术有限公司
主分类号: H03M13/15 分类号: H03M13/15
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 逯长明
地址: 200121上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 译码 方法 装置 系统
【权利要求书】:

1.一种译码方法,其特征在于,包括:

接收码多项式,将所述码多项式对预先设定的生成多项式进行求模,获取 原校验子图样;所述码多项式由编码端发送的码多项式和传输过程中产生的错 误多项式模二加而成;

将所述原校验子图样输入基于生成多项式的反多项式的电路运转,原校验 子图样对应的错误多项式向所述接收的码多项式的低次方向循环移位,确定错 误图样;所述错误图样与所述接收的码多项式的低次位出错时的校验子图样对 应;

将所述接收的码多项式的倒序和错误图样进行模二加,得到纠错后码序 列;所述将所述接收的码多项式的倒序和错误图样进行模二加是在所述基于生 成多项式的反多项式电路的寄存器的数值之和小于等于所述接收的码多项式 的可纠正错误个数时进行的。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述码多项式对预先 设定的生成多项式进行求模,获取原校验子图样包括:

将所述码多项式除以所述预先设定的生成多项式并取余式,得到原校验子 图样。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述原校验子图样输 入基于生成多项式的反多项式的电路运转,原校验子图样对应的错误多项式向 所述接收的码多项式的低次方向循环移位,确定错误图样包括:

将所述原校验子图样输入基于生成多项式的反多项式的电路;所述反多项 式是将所述预先设定的生成多项式的系数逆置得到的;

原校验子图样在基于生成多项式的反多项式的电路中运转;电路的寄存器 图样是原校验子图样对应的错误多项式向接收的码多项式的低次方向循环移 位后得到的校验子图样;

对基于生成多项式的反多项式的电路的寄存器图样进行识别,从而得到对 应的错误图样。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述对基于生成多项式的反 多项式的电路的寄存器图样进行识别,从而得到对应的错误图样包括:

判断构成所述基于生成多项式的反多项式的电路的寄存器的数值之和是 否小于等于所述接收的码多项式的可纠正错误个数,如果是,则输出循环移位 后的校验子图样对应的错误图样。

5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法包括:

所述生成多项式底数不变,指数取反,得到指数为负值的生成多项式;

所述生成多项式指数最高项乘以所述指数为负值的生成多项式得到所述 生成多项式的反多项式。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

判断在译码过程中是否出现可识别的错误图像,如果是,则将所述接收的 码多项式的倒序和错误图样进行模二加。

7.一种译码器,其特征在于,包括:

原校验子生成单元,用于接收码多项式,将所述码多项式对预先设定的生 成多项式进行求模,获取原校验子图样;所述码多项式由编码端发送的码多项 式和传输过程中产生的错误多项式模二加而成;

基于生成多项式的反多项式的电路单元,用于接收所述原校验子图样并运 转,原校验子图样对应的错误多项式向所述接收的码多项式的低次方向循环移 位;确定错误图样并输出;所述错误图样与所述接收的码多项式的低次位出错 时的校验子图样对应;

缓存器,用于接收码多项式,并输出;

纠错单元,用于将缓存器输出的码多项式的倒序和基于生成多项式的反多 项式的电路单元输出的错误图样进行模二加,得到纠错后码序列;所述将缓存 器输出的码多项式的倒序和基于生成多项式的反多项式的电路单元输出的错 误图样进行模二加是在所述基于生成多项式的反多项式电路的寄存器的数值 之和小于等于所述接收的码多项式的可纠正错误个数时进行的。

8.根据权利要求7所述的译码器,其特征在于,所述纠错单元还用于根据 基于生成多项式的反多项式的电路的寄存器的图样判断是否出现可识别的错 误图样,如果否,则输出不可纠指示。

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