[发明专利]微型处理器控制的稳磁装置

权利要求书

1.一种微型处理器控制的稳磁装置，包括：储能电容(C)、稳磁线圈(L)，其特征在于，还包括：双向可控硅(K)、限流电阻(R₀)、取样分压第一电阻(R₁)、取样分压第二电阻(R₂)、取样分压第三电阻(R₃)、取样分压第四电阻(R₄)、测控单元、微型处理器、稳磁值设定单元、显示单元，取样分压第一电阻(R₁)与取样分压第二电阻(R₂)、取样分压第三电阻(R₃)、取样分压第四电阻(R₄)串联连接，形成三个分压值以供测控单元取样，储能电容(C)并接于取样分压第一电阻(R1)、取样分压第二电阻(R₂)、取样分压第三电阻(R₃)、取样分压第四电阻(R₄)串联连接的两端，稳磁线圈(L)与储能电容(C)和限流电阻(R₀)连接，形成一个充放电回路，充电时产生的电流对放置在稳磁线圈(L)内的磁钢体进行充磁，放电时对放置在稳磁线圈(L)内的磁钢体进行退磁，稳磁线圈(L)的一端与双向可控硅(K)一端连接，双向可控硅(K)的另一端与测控单元和微型处理器分别连接，作为电路的充放电控制开关，微型处理器根据反馈信号控制双向可控硅(K)的通断，显示单元负责检测磁通量密度值，一端与微处理单元相连，稳磁值设定单元分别与测控单元、微型处理器、取样分压第四电阻(R₄)相连，用于设定稳磁值。

2.根据权利要求1所述的微型处理器控制的稳磁装置，其特征是，所述的测控单元，通过磁通量分级选择开关与取样分压第一电阻(R1)、取样分压第二电阻

(R₂)、取样分压第三电阻(R₃)、取样分压第四电阻(R₄)取样连接，磁通量分级选择开关分别对四个电阻进行电流与电压值的取样，所得到取样值的数据将传输给微型处理器。

3.根据权利要求1所述的微型处理器控制的稳磁装置，其特征是，所述的稳磁值设定单元，包括：手动/自动转换开关、磁通量分级选择开关、稳磁分级叠加按钮、稳磁启动按钮、清零按钮，上述开关或按钮均与微型处理器的I/O输入接口连接，形成控制输入指令回路，手动/自动转换开关置于手动挡，由磁通量分级选择开关对磁钢体零部件进行稳磁参数设置，磁通量分级选择开关与取样分压电阻(R1)、取样分压第二电阻(R₂)、取样分压第三电阻(R₃)、取样分压第四电阻(R₄)相接触，并在四个电阻之间滑动选择，稳磁分级叠加按钮与磁通量分级选择开关相连，磁通量分级选择开关和对应的稳磁分级叠加按钮按所需值进行依次设定稳磁值，稳磁启动按钮和清零按钮均与微型处理器相连，用于设定进行稳磁工作开始和清除记忆退磁值。

4.根据权利要求1所述的微型处理器控制的稳磁装置，其特征是，所述的微型处理器，其接受测控单元根据稳磁值设定单元所设定的退磁减率叠加值连续的供给微型处理器一个预置值，同时通过稳磁值设定单元的手动/自动选择开关分级选择磁通量分级选择开关，通过微型处理器比较处理获得和控制退磁减率值，如退磁过量或者退磁不到位，则通过清零后重新增减三档分级磁通量的组合，直到正确设置稳磁到所需磁通量的叠加值，每次清零后重新设置的退磁减率值记忆在微型处理器中，对下一个磁钢体零部件连续减率退磁储存了相同的预定稳磁数据。