[发明专利]一种高低温环境下的五轴测试台

权利要求书

1、一种高低温环境下的五轴测试台，其特征在于：包括机架(1)，机架(1)上设置有水平的X-Y轴的定位板(2)，定位板(2)上设置有方箱(3)，在方箱(3)中安装有Z轴装置，Z轴装置与方箱(3)之间设置有Z轴的调整和定位结构，在Z轴装置的上端面上设置有α轴的调整和定位结构，在α轴调整和定位结构上设置有β轴调整和定位结构；在机架(1)上设置有工装(6)。

2、根据权利要求1所述的测试台，其特征在于：所述的定位板(2)上设置有定位孔，该定位孔每一组有两个，一个为主定位孔，另一个为辅助定位孔。

3、根据权利要求1所述的测试台，其特征在于：所述的Z轴的调整和定位结构是，包括在方箱(3)的内壁安装有一对垂直设置的滚动导轨(8)，在滚动导轨(8)中安装有Z轴装置的Z轴(7)，Z轴(7)可以上下移动，Z轴装置的Z轴(7)表面沿轴向设置有Z齿条(9)，Z齿条(9)与齿轮(12)连接，齿轮(12)与蜗轮减速器(11)连接，蜗轮减速器(11)与手轮(10)连接；在Z轴(7)的下端面中心设置有定位销a(13)，在方箱(3)的底板上设置有定位销b(14)，

在Z轴(7)上还安装有一根Z轴标尺(15)，Z轴标尺(15)上设置有若干定位锥孔，在方箱(3)的侧壁设置有定位销c(16)。

4、根据权利要求1所述的测试台，其特征在于：所述的α轴的调整和定位结构，包括转动盘(18)，转动盘(18)上设置有α轴(4)，转动盘(18)设置在固定盘(17)的上面，转动盘(18)与固定盘(17)同轴安装，固定盘(17)与Z轴装置的上端连接；

转动盘(18)上还设置有定位销d(19)，固定盘(17)上设置有相应的按照α角度坐标做出的定位锥孔。

5、根据权利要求1所述的测试台，其特征在于：所述的β轴的调整和定位结构是，在转动盘(18)上还设置有两个立板，两个立板之间安装有可转动的β轴(5)；在一侧的立板上安装有两个圆盘，一个是固定圆盘(20)，与该侧立板固连，固定圆盘(20)上设置有按照β角度坐标做出的定位锥孔，另一个圆盘是转动圆盘(21)，转动圆盘(21)与固定圆盘(20)同轴设置，转动圆盘(21)上面设置有定位销e(22)，转动圆盘(21)与β轴(5)同轴连接；

β轴(5)上设置有一安装平台(23)。

6、根据权利要求1所述的测试台，其特征在于：所述的定位销都采用提拉式的定位销方式定位。

7.根据权利要求1所述的测试台，其特征在于：所述各零、部件的材质相同。