[发明专利]改变测量系统的一个或多个参数的方法

权利要求书

1.一种用于改变测量系统的一个或多个参数的方法，包括：

使用系统来分析试样以从系统分类通道产生试样中的一群粒子的值；

识别群的值所处的分类空间中的区域，以及

基于预定百分率的群的值，使用所述区域的一个或多个特性确定群的最佳分类区域，使得所述最佳分类区域包含所述预定百分率的群的值，其中所述最佳分类区域被用作添加试样中的粒子的分类。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述最佳分类区域具有不同于所述区域的一个或多个特性的一个或多个特性，该一个或多个特性包括尺寸、形状、位置或它们的某些组合。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括在所述分析之前校正系统。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述试样包括图校正试剂。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述区域的一个或多个特性包括所述区域中的值的平均值、均数、峰值或中值以及所述区域中的值的标准偏差。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述最佳分类区域以群的值的中值为中心加上偏离所述中值的若干标准偏差。

7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述最佳分类区域由围绕群的值的中值的预定尺寸的边界来定界。

8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述最佳分类区域的尺寸是包含预定百分率的群的值的最小尺寸。

9.如权利要求1所述的方法，其特征在于，来自所述分类通道的值包括荧光值。

10.如权利要求1所述的方法，其特征在于，来自所述分类通道的值包括光散射强度值。

11.如权利要求1所述的方法，其特征在于，来自所述分类通道的值包括粒子的体积测量值。

12.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述试样包括一个或多个添加的粒子的群，所述方法还包括对所述一个或多个添加的群执行所述方法。

13.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述试样包括一个或多个添加的粒子的群，所述方法还包括对所述一个或多个添加的群执行所述方法以及使用群和所述一个或多个添加的群的最佳分类区域来内插得出不包括在所述试样中的另一粒子群的最佳分类区域。

14.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述区域的一个或多个特性包括群的值的平均值、均数、峰值或中值以及所述群的值的标准偏差，所述方法还包括将所述区域的一个或多个特性中的至少一个特性与所述的所述区域一个或多个特性中的至少一个特性的预定范围做比较。

15.如权利要求14所述的方法，其特征在于，基于所述比较的结果来评定所述系统的性能。

16.如权利要求14所述的方法，其特征在于，如果所述的所述区域的一个或多个特性中的至少一个特性位于所述的预定范围之外，所述方法还包括确定是否应在所述系统上执行一个或多个校正步骤。

17.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括将所述最佳分类区域的一个或多个特性与所述区域的一个或多个特性做比较。

18.如权利要求17所述的方法，其特征在于，所述最佳分类区域和所述区域的一个或多个特性包括尺寸、形心位置、所述区域或所述最佳分类区域内值的最佳拟合直线的斜率、所述最佳拟合直线的偏距或它们的某些组合。

19.如权利要求17所述的方法，其特征在于，如果所述比较的结果超出了预定的极限，所述方法还包括确定系统是否正出错。

20.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述最佳分类区域包括一部分分类空间，并且其中粒子具有位于所述部分的分类空间中的值的概率大于预定的概率。

21.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述最佳分类区域排除一部分分类空间，并且其中粒子具有位于所述部分的分类空间中的值的概率小于预定的概率。

22.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述值以线性单位或对数单位来表达。