[发明专利]用于传递校准数据的系统和方法无效
申请号: | 200780036700.4 | 申请日: | 2007-08-09 |
公开(公告)号: | CN101523209A | 公开(公告)日: | 2009-09-02 |
发明(设计)人: | R·D·谢尔 | 申请(专利权)人: | 拜尔保健有限公司 |
主分类号: | G01N33/487 | 分类号: | G01N33/487 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 李镇江 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 传递 校准 数据 系统 方法 | ||
1.一种用于确定流体样本中的分析物浓度的测试系统,该测试系统包括:
传感器容器,其具有基部和盖子,所述传感器容器适于在其中封入多个测试传感,所述传感器容器包括附着于其上的校准标签,该校准标签包括位于其上的多个电触点,该电触点适于将校准信息编码在所述校准标签上;以及
测试装置,其具有位于其外部的自动校准组件,所述测试装置适于确定所述流体样本中的所述分析物浓度,所述自动校准组件包括适于与所述校准标签上的所述多个电触点通信的多个校准元件,
其中所述测试装置适于响应于接合所述电触点的所述校准元件而确定编码在所述校准标签上的所述校准信息,被编码的校准信息在不将所述传感器容器或所述校准标签插入所述测试装置的情况下被确定。
2.根据权利要求1所述的测试系统,其中所述校准标签附着到所述传感器容器的盖子。
3.根据权利要求1所述的测试系统,其中所述测试装置和所述自动校准组件形成数字电子电路。
4.根据权利要求1所述的测试系统,其中所述测试装置和所述自动校准组件形成模拟电子电路。
5.根据权利要求1所述的测试系统,其中所述校准元件是从所述自动校准组件延伸的校准引脚。
6.根据权利要求1所述的测试系统,其中所述自动校准组件包括一个或多个定位组件,该定位组件适于接合形成在所述校准标签上的一个或多个标签定位组件。
7.根据权利要求1所述的测试系统,其中所述校准标签具有对称的形状。
8.根据权利要求1所述的测试系统,其中所述校准标签具有不对称的形状。
9.根据权利要求1所述的测试系统,其中所述多个测试传感器是多个电化学测试传感器。
10.根据权利要求1所述的测试系统,其中所述多个测试传感器是多个光学测试传感器。
11.一种用于确定流体样本中的分析物浓度的测试系统,该测试系统包括:
传感器容器,其具有基部和盖子,所述传感器容器包括附着于其上的校准标签,该校准标签包括位于其上的多个电触点,所述多个电触点中的第一电触点经由导电轨迹连接到第一环,所述多个电触点中的第二电触点经由导电轨迹连接到第二环,并且所述多个电触点中的第三电触点与所述第一环和所述第二环断开,所述校准信息基于所述电触点与所述第一环和所述第二环的连接和断开而被编码在所述校准标签上;以及
测试装置,其具有位于其外部的自动校准组件和位于其内部的微处理器,所述测试装置适于确定所述流体样本中的所述分析物浓度,所述自动校准组件包括适于与所述校准标签上的多个电触点通信的多个校准元件,所述微处理器适于响应于接合所述测试装置外部的所述多个校准元件的所述多个电触点而确定编码在所述校准标签上的校准信息。
12.根据权利要求11所述的测试系统,其中所述测试装置进一步包括位于其中的存储装置,该存储装置与所述微处理器通信,该存储装置适于存储查找表,该查找表中具有预定义的校准代码。
13.根据权利要求11所述的测试系统,其中所述测试装置和所述自动校准组件形成数字电子电路。
14.根据权利要求11所述的测试系统,其中所述测试装置和所述自动校准组件形成模拟电子电路。
15.根据权利要求11所述的测试系统,其中所述多个校准元件是从所述自动校准组件延伸的校准引脚。
16.根据权利要求11所述的测试系统,其中所述校准标签包括感测触点,所述多个电触点一般置于围绕所述感测触点,该感测触点适于被形成在所述自动校准组件上的感测引脚接合,所述感测触点和所述感测引脚适于通知所述微处理器所述多个校准元件与所述多个电触点接合。
17.根据权利要求11所述的测试系统,其中所述测试装置是集成仪表。
18.根据权利要求11所述的测试系统,其中所述多个电触点中的所述第三电触点表示所述校准标签的索引位置。
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