[发明专利]用于提纯低级硅材料的方法和装置有效
| 申请号: | 200780033182.0 | 申请日: | 2007-09-13 |
| 公开(公告)号: | CN101511731A | 公开(公告)日: | 2009-08-19 |
| 发明(设计)人: | 多米尼克·勒布朗;勒内·布瓦韦尔 | 申请(专利权)人: | 希利贝坎库公司 |
| 主分类号: | C01B33/037 | 分类号: | C01B33/037;C01B33/02;C01B33/12;C30B29/06;F27B7/06 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 王 旭 |
| 地址: | 加拿大*** | 国省代码: | 加拿大;CA |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 提纯 低级 材料 方法 装置 | ||
1.一种用于提纯低纯度硅材料的方法,所述方法包括以下步骤:
(a)提供配备有氧气-燃料燃烧器的转鼓炉;和
(b)在由所述氧气-燃料燃烧器提供的氧化气氛下并且将氧气与天然 气燃料的比率设定在1∶1至4∶1的范围内,使所述低纯度硅材料在所述转 鼓炉中熔融,并且获得较高纯度硅材料的熔体。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述氧化气氛包括H2O,H2, O2,CO和CO2。
3.根据权利要求1所述的方法,其中步骤(b)的所述熔融包括:将氧 气与天然气燃料的比率设定在1.5∶1至2.85∶1的范围内。
4.根据权利要求1所述的方法,其中从所述低纯度硅材料中除去Na, K,Mg,C,Sr,Ba,Al,Zn,B和C中的至少一种。
5.根据权利要求1所述的方法,其中步骤(b)的所述熔融包括:在步 骤(b)之前,将所述熔融装置在其中没有所述低纯度硅材料的情况下预热的 步骤。
6.根据权利要求1所述的方法,其中步骤(b)的所述熔融包括:使所 述低纯度硅材料在硅的熔融温度以上的温度下熔融。
7.根据权利要求1所述的方法,其中步骤(b)的所述熔融包括使所述 低纯度硅材料在1410℃至1700℃的范围内的温度下熔融。
8.根据权利要求1所述的方法,其中步骤(b)的所述熔融包括:在 1410℃和1500℃之间的温度下熔融,以使碳析出到炉渣中,并且降低所述 较高纯度硅材料的熔体的氧含量。
9.根据权利要求1所述的方法,其中步骤(b)的所述熔融包括加入合 成炉渣。
10.根据权利要求1所述的方法,其中步骤(b)的所述熔融包括:收集 在所述低纯度硅材料的所述熔融过程中产生的二氧化硅烟雾。
11.根据权利要求1所述的方法,还包括以下步骤:
(c)将所述较高纯度硅材料的熔体与炉渣分离。
12.根据权利要求11所述的方法,其中所述将所述较高纯度硅材料的 熔体与炉渣分离包括:将所述熔体倾注到模中,所述模具有绝热底壁,绝 热侧壁和开口顶部。
13.根据权利要求12所述的方法,其中所述将所述熔体倾注到模中包 括:使所述转鼓炉放液。
14.根据权利要求12或13中任一项所述的方法,还包括以下步骤:
(d)在电磁搅拌所述较高纯度硅材料的熔体的同时,通过从所述模的 所述开口顶部向所述绝热底壁的单向凝固,使所述较高纯度硅材料的熔体 凝固;
(e)控制所述单向凝固的速率;
(f)在所述较高纯度硅材料的熔体已经部分凝固时,停止所述单向凝 固,以产生具有外壳和中心的锭料,所述外壳包含纯度高于所述较高纯度 硅材料的固体多晶硅,所述中心包含富集杂质的液体硅;和
(g)在所述锭料的所述外壳中产生开口以使所述富集杂质的液体硅流 出,并且留下所述外壳,从而获得纯度高于所述较高纯度硅材料的固体多 晶硅。
15.根据权利要求12或13中任一项所述的方法,还包括以下步骤:
(d)在电磁搅拌所述较高纯度硅材料的熔体的同时,通过单向凝固使 所述较高纯度硅材料的熔体凝固,并且获得固体锭料;
(e)控制所述单向凝固的速率;和
(f)将所述固体锭料的第一部分与其余部分分离,所述第一部分已经 先于所述其余部分凝固,并且包含比所述其余部分更少的杂质,从而获得 纯度高于所述较高纯度硅材料的固体多晶硅。
16.根据权利要求14所述的方法,其中从所述低纯度硅材料中除去 Al,As,Ba,Bi,Ca,Cd,Co,Cr,Fe,K,La,Mg,Mn,Mo,Na, Ni,P,Pb,Sb,Sc,Sn,Sr,Ti,V,Zn,Zr,O,C或B或它们的任何 组合。
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