[发明专利]确定物质原子序数的系统和方法无效
| 申请号: | 200780017040.5 | 申请日: | 2007-04-18 |
| 公开(公告)号: | CN101443655A | 公开(公告)日: | 2009-05-27 |
| 发明(设计)人: | 杰弗里·哈丁 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
| 主分类号: | G01N23/20 | 分类号: | G01N23/20;G01V5/00 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 封新琴 |
| 地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 确定 物质 原子序数 系统 方法 | ||
1.一种确定物质类型的方法,所述方法包括根据衍射谱中探测x射线 散射光子数的测量比率确定物质的有效原子序数。
2.权利要求1的方法,其中所述物质包括非晶物质、准非晶物质和部 分结晶物质中的一种。
3.权利要求1的方法,其中所述衍射谱绘出光子累计数量随多个动量 传递值的变化,并且其中所述多个动量传递值为0.5nm-1~10nm-1。
4.权利要求1的方法,其中所述衍射谱绘出光子累计数量随多个动量 传递值的变化,并且其中所述多个动量传递值为3nm-1~4nm-1。
5.权利要求1的方法,还包括:
生成绘出多个原子序数随多个总散射截面比率变化的理论关系曲线;
获得所述探测x射线散射光子数的测量比率;和
根据所述理论关系曲线确定相应于所述测量比率的有效原子序数。
6.权利要求1的方法,还包括:
作出描绘多个原子序数随多个总散射截面比率变化的理论关系曲线的 拟合线;
获得所述探测x射线散射光子数的测量比率;和
根据所述拟合线确定相应于所述测量比率的有效原子序数。
7.权利要求1的方法,还包括通过接收从所述物质散射出的多种辐射 能量生成所述衍射谱。
8.一种确定物质类型的处理器,配置所述处理器以根据衍射谱中探测 x射线散射光子数的测量比率确定物质的有效原子序数。
9.权利要求8的处理器,其中所述物质包括非晶物质、准非晶物质和 部分结晶物质中的一种。
10.权利要求8的处理器,进一步配置所述处理器以通过绘出光子累计 数量随多个动量传递值的变化来生成所述衍射谱,其中所述多个动量传递 值为0.5nm-1~10nm-1。
11.权利要求8的处理器,进一步配置所述处理器以通过绘出光子累计 数量随多个动量传递值的变化来生成所述衍射谱,并且其中所述多个动量 传递值为3nm-1~4nm-1。
12.权利要求8的处理器,进一步配置所述处理器以:
接收绘出多个原子序数随多个总散射截面比率变化的理论关系曲线;
计算所述探测x射线散射光子数的测量比率;和
根据所述理论关系曲线确定相应于所述测量比率的有效原子序数。
13.权利要求8的处理器,进一步配置所述处理器以:
作出描绘多个原子序数随多个总散射截面比率变化的理论关系曲线的 拟合线;
计算所述探测x射线散射光子数的测量比率;和
根据所述拟合线确定相应于所述测量比率的有效原子序数。
14.权利要求8的处理器,进一步配置所述处理器以通过接收从所述物 质散射出的多种辐射能量生成所述衍射谱。
15.一种确定物质类型的系统,所述系统包括:
x射线源,其配置用于产生x射线;
探测器,其配置用于探测x射线穿过所述物质之后的一次散射和相干 散射;和
处理器,其配置用于根据衍射谱中探测x射线散射光子数的测量比率 确定所述物质的有效原子序数。
16.权利要求15的系统,其中所述物质包括非晶物质、准非晶物质和 部分结晶物质中的一种。
17.权利要求15的系统,其中进一步配置所述处理器以通过绘出光子 累计数量随多个动量传递值的变化生成所述衍射谱,其中所述多个动量传 递值为0.5nm-1~10nm-1。
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