[发明专利]全息存储材料

说明书

技术领域

本发明涉及一种全息存储材料，其至少具有聚合物膜和含金属的第一 层，其中该第一层直接或间接地布置在聚合物膜上。

背景技术

全息存储材料可以是这样的材料，即，期望的信息可以以计算机生成的 全息图的形式连续地写入该材料。计算机生成的全息图在该情况下还可以连 续地被读取。

计算机生成的全息图包括一个或多个点矩阵或点分布的层，所述一个或 多个层在优选用相干光束照射的情况下使得编码于全息图中的信息再现。点 分布在这里可以被计算为振幅全息图、相位全息图或开诺全息照片或者这些 类型的全息图的混合形式。为了产生计算机生成的全息图，先计算出后者， 并随后利用合适的写入设备借助能量输入将其写入存储材料。所获得的点矩 阵的分辨率可以处于低于1μm的范围内。因此，可以用高分辨率将全息图 写在较小的空间中，可先通过利用光束进行照射并再现衍射图像来读取全息 图的信息。全息图的尺寸在该情况下可以在小于1mm²与几个1cm²之间。

上面描述的计算机生成的全息图可以与直接可见的信息(微脚本、显微 图像)结合。

除了计算机生成的全息图以外，现有技术(美国2005/0170259A1)还公开 了模压全息图。几个模压全息图可以通过多层结构一个布置在另一个的顶 部。为此，必须使这些层彼此独立地被模压，随后将它们彼此连接。对于各 层，在该安全元件中必须使它们足够厚，以被模压，而使层不在该过程中受 到破坏。与计算机生成的全息图相反，并且由于制造复杂，模压全息图不能 单独地设计成系列。

现有技术中已知许多用于写入计算机生成的全息图的写入设备，其将全 息图的光学结构写入平面的存储材料中。这里示例性地参照文献WO 02/079881、WO02/079883、WO02/084404、WO02/084405和WO03/012549。

同样已知的是许多读取设备，它们适于通过利用光束和合适的光学器件 照射全息图表面而使再现可见或可用电子学方法表示和通过记录装置可评 价。这里示例性地参照文献DE 101 37 832、WO02/084588和WO 2005/111913。

全息存储材料可以由聚合物膜和金属层制成，可以借助输入的热能、优 选地借助聚焦激光束以点的方式影响其结构。

首先为了使存储材料被有效写入，必须具有最小程度的吸收能。该吸收 能是写入过程期间形成被写入点形成的触发因数。

金属层对光学性质、特别是存储材料的吸收性质有显著的影响。金属层 的决定参数在这里是其厚度，因为厚度影响吸收性质。从而，金属层必须具 有特定的厚度，以确保对写入期间入射的辐射的充分吸收。

然而，除了吸收性质以外，透射和反射也是存储材料性质的重要方面， 其中这些进一步的性质或多或少受到金属层的影响。经常地，具有最大吸收 性的存储材料仅呈现出略微反射的、微带灰色的以及半透明的。如果期望反 射更强的存储材料，则可以增加金属层厚度，进而使光密度(OD)增加，但这 导致吸收的显著降低，从而使写入点分布所需的激光能量(辐射强度)显著增 加。而高的激光能量仅是有限的程度，或者要高成本。

即使需要低透射性，例如，为了减小干扰的漫射光在反射读取期间从存 储材料背面的影响，需要增加OD。如果存储材料要想借助照射(例如，透射 全息图1在透射时产生较强衍射结构，事实也是如此。在该情况下，也需要 增加OD。结果，存储材料的上述性质仅能在有限的程度内实现，或者以高 成本实现。

发明内容

因此，本发明基于使存储材料具有改进的光学性质的技术问题。

前序中提到的类型的存储介质中的该技术问题通过如下事实得以解决： 提供非金属的第二层，提供金属的第三层，第二层设置在第一和第三层之间， 第一、第二和第三层合起来的总厚度小于读取所使用的辐射的波长。

本发明惊奇地发现，由于上述的在聚合物膜上的第一、第二和第三层的 三层结构，存储材料的光学性质达到目标。