[实用新型]分划间隙定量测量调校辅助用具无效

专利信息
申请号: 200720307112.7 申请日: 2007-12-19
公开(公告)号: CN201138198Y 公开(公告)日: 2008-10-22
发明(设计)人: 陈世良;周琛芳;郭华芝;程雪梅 申请(专利权)人: 河南中光学集团有限公司
主分类号: G01B21/16 分类号: G01B21/16
代理公司: 郑州联科专利事务所(普通合伙) 代理人: 张晓萍
地址: 473000河南省南阳市*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 间隙 定量 测量 调校 辅助 用具
【说明书】:

技术领域

实用新型属于光学仪器技术领域,是一种分划间隙定量测量调校辅助用具。

背景技术

在公知的技术中,为了保证探测的精确性,光电成像系统中的光钎面板与分划板刻字面间隙要求非常严格,其误差一般要求控制在0.10~0.12mm范围内。为达到这一要求,通常是将分划板压铆在分划板座内,分划板座与分划板固定圈之间采用螺纹连接,用于间隙的调整。由于结构所限,间隙所在的空间狭小,实施调校、测量很不方便。而且调校时一般采用压纸定性调整法,是将厚度为0.10的铜版纸冲制成圆片,放在像增强器光钎面板表面上,然后通过旋转分划板座将纸片压紧,凭人为感觉决定松紧,以此保证间隙的精确度。装配过程中的检验也是用厚度为0.10mm的纸片作为通规,0.12mm的纸片作为止规来检测间隙的尺寸。该方法存在的不足:①对操作人员素质要求高;②间隙保证只能定性判断;③间隙测量的工具无法精确按计量量值传递;④间隙值调整的可靠性差。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种能够精确地测量出间隙的量值,确保调校精度,而且测量便捷、调校稳定可靠的分划间隙定量测量调校辅助用具。

实现本实用新型的目的所采取的技术方案是:该辅助用具包括一个用于测量光电成像器的光纤面板外端面与分划板固定圈外端面之间的间隙H值的定量测量器具和一个用于测出分划板外端面与分划板固定圈外端面之间的距离h值的定量调校器具,定量测量器具是由测量定位块和千分表组成,测量时安装在光电成像器的分划端;定量调校辅具是由间隙调校组件和千分表组成,调校时通过辅助压圈将待测分划板部件装卡在间隙调校组件内。

所述测量定位块与光电成像器外壳配合,其上设有用于安装千分表的检测通孔,千分表测头穿过检测通孔与光电成像器的光纤面板外端面相触接。

所述间隙调校组件具有一个带内腔的固定座,其一端设有用于安装千分表的通孔,另一端通过紧固件连接有用于装卡待测分划板部件的定位环,固定座内腔装有可以轴向滑动并带有接触头的过渡滑块,其一端设有与固定座连接用于限止接触头下死点位置的限位板。

所述过渡滑块与套筒状固定座之间装有压紧弹性件。

按照上述方案制成的分划间隙定量测量调校辅助用具,能够精确地测量和调校分划板与光纤面板之间的安装间隙,并有效地保证其安装精度,从而提高产品的使用性能,具有使用便捷、可靠性强等优点。

附图说明

图1是本实用新型测量部位的结构示意图;

图2是定量测量器具的结构示意图;

图3是定量调校器具的结构示意图。

具体实施方式

参看图1、图2,本实用新型的分划间隙定量测量调校辅助用具,包括一个用于测量光电成像器2的光纤面板3外端面与分划板固定圈4外端面之间的间隙H值的定量测量器具和一个用于测出分划板6外端面与分划板固定圈4外端面之间的距离h值的定量调校器具,定量测量器具是由测量定位块7和千分表8组成,测量定位块7与光电成像器外壳1配合,测量时定量测量器具安装在光电成像器2的分划端,一端面与分划板固定圈4外端面的装配位置同位,并作为千分表8归零的基准,千分表8装在测量定位块7的另一端,其测头穿过测量定位块7上设置的测量通孔可与光电成像器2的光纤面板3外端面相触接。

参看图3,定量调校辅具由间隙调校组件和千分表9组成,间隙调校组件具有一个带内腔的固定座10,调校时可将待测分划板部件通过辅助压圈15装卡在间隙调校组件内,间隙调校组件的一端通过紧固件19穿装有一个千分表9,另一端通过紧固件13连接有用于装卡待测分划板部件的定位环14,并通过辅助压圈15与待测的分划板部件中的分划板固定圈4相配合,定位环14与分划板固定圈4之间的结合面作为测量基准面。测量不同规格的分划板时,可更换不同的定位环。固定座10内腔装有过渡滑块18,该滑块可以沿轴向自由滑动,并由固定座10上设置的防转钉12限止其径向转动,在过渡滑块18上装有三个用于触接待测分划板6外端面的接触头16。为了防止过渡滑块18脱出固定座10,在其一端设置了与固定座10连接用于限止接触头16下死点位置的限位板17。过渡滑块18与固定座10之间设有压缩弹簧11,用于保证接触头16与待测分划板6的压紧力。千分表9的测头与过渡滑块18的一端相触接,并通过过渡滑块18传递待测分划板6的轴向位置。测量时,可配制一个校对块,使之与定位环14配合,并以其结合面作为测量基准面,用于千分表9的调整归零。

本实用新型的分划间隙定量测量调校辅助用具,是以分划板固定圈4外端面为基准面,先用定量测量辅具测出光电成像器2的光纤面板3外端面与基准面之间的间隙值H,再用定量调校辅具,测出分划板6外端面与分划板固定圈4外端面之间的距离h,然后通过运算公式Δ′=H-h计算出被测光纤面板3外端面与分划板6外端面之间的实时间隙值Δ′,并将Δ′值与设定的误差允许值Δ进行比较,得出间隙调整值,最后通过转动分划板座5,调整分划板6外端面与分划板固定圈4外端面之间的距离h,并将实时间隙值Δ′调校至至设定间隙允许值Δ的范围内,即完成分划间隙定量测量调校。由此可以准确地达到装配精度的要求,同时也可以准确地记录每一产品光纤面板3外端面与分划板6外端面之间的间隙值。

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