[实用新型]用于电子产品的测量及标记治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测量及标记治具，更具体地，涉及一种用于电子产品的测量及标记治具，能使检测人员以目视或显微镜快速且简易地判定产品的尺寸是否超出规格尺寸。

背景技术

目前，多个电子产品10(例如记忆卡)可大批量生产，如图1所示，然后必须对这些电子产品的外形进行检测，以判断这些电子产品是否符合产品的尺寸规格。

然而，当这些电子产品10通过成型机完成成型后，由于这些电子产品10的生产在线检测人员必须用投影机来测量多点数据以确认这些电子产品10的尺寸，而无法快速简易地判定这些电子产品10的尺寸是否超出规格尺寸，因此非常不符合大批量生产的效率要求。

此外，现有技术中并没有公开过一种标记治具，当电子产品在测量或检查完成后，通过该标记治具能快速简易地在这些电子产品上作标记。

因此，需要提供一种测量治具及标记治具，以解决前述缺点。

实用新型内容

本实用新型的一个目的在于提供一种测量治具，能使检测人员以目视或显微镜快速且简易地判定产品的尺寸是否超出规格尺寸。

本实用新型的另一个目的在于提供一种标记治具，能使作业人员快速且简易地在产品上作标记。

为达到上述目的，本实用新型提供了一种测量治具，用以测量产品。该测量治具包括承接盒及透明外盖。该承接盒包括框体及承座，该框体及该承座限定出凹槽，用以承接产品。该透明外盖放置于产品上，且位于该凹槽内，并具有表面，其中所述表面面向产品，并具有至少一个图案，所述图案具有该产品的规格尺寸，且该图案的规格尺寸用以与该产品的实际尺寸进行比对。

根据本实用新型的测量治具，当电子产品通过成型机完成成型后，利用该测量治具能使检测人员以目视或显微镜快速且简易地判定该产品尺寸是否超出规格尺寸。而且，与现有技术相比，本实用新型的测量治具可减少检测人员因必须用投影机来测量多点数据以确认该产品尺寸而带来的不便。

另外，本实用新型提供了一种标记治具，用以注记产品。该标记治具包括承接盒及透明外盖。该承接盒包括框体及承座，该框体及该承座限定出凹槽，用以承接产品。该透明外盖放置于产品上，且位于该凹槽内，并且具有对应于产品的贯穿开口。

根据本实用新型的标记治具，当电子产品在测量或检查完成后，利用该标记治具能使作业人员快速且简易地在产品上作标记。

为使本实用新型的上述和其它目的、特征和优点更加明显，下文将结合附图，进行详细说明。

附图说明

图1为现有技术的多个电子产品的立体示意图。

图2a为本实用新型一种实施方式的测量治具的分解立体示意图。

图2b为本实用新型的所述实施方式的测量治具的分解剖面示意图。

图3为本实用新型的所述实施方式的测量治具的组合剖面示意图。

图4a为本实用新型的一种实施方式的标记治具的分解立体示意图。

图4b为本实用新型的所述实施方式的标记治具的分解剖面示意图。

图5为本实用新型的所述实施方式的标记治具的组合剖面示意图。

标记数字说明：

10：基板单元或电子产品，12：贯穿孔，20：产品，

100：测量治具，110：承接盒，112：框体，114：承座，

116：凹槽，118：定位导柱，120：凹处，122：凹处，

124：接触区域，126：非接触区域，130：透明外盖，

132：下表面，134：图案，136：贯穿孔，138：边缘，

200：标记治具，210：承接盒，212：框体，214：承座，

216：凹槽，218：定位导柱，220：凹处，222：凹处，

224：接触区域，226：非接触区域，230：透明外盖，

233：贯穿开口，234：开孔，236：贯穿孔，238：边缘。

具体实施方式

参考图2a、图2b及图3，其表示本实用新型一种实施方式的测量治具100，所述测量治具用以测量产品20，该产品20可以为多个电子产品(例如快闪记忆卡、安全记忆卡等记忆卡)，或该产品20可以为包括多个基板单元10的基板条。