[实用新型]一种X射线衍射样品架

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种用于X射线衍射仪的样品架。

背景技术

X射线衍射仪用于利用衍射原理精确测定物质的晶体结构及应力，从而精确进行物相分析、定性分析、定量分析的重要仪器，广泛应用于冶金、石油、化工、航空航天、材料生产等领域。

用于X射线衍射仪的传统样品架主要有两种，一种是用于测试块状样品的样品台1，如图1和图2所示，该样品台1具有样品孔2，在样品孔2的中心位置标记为3，样品台1还具有楔部4，当检测块状样品时，需要将块状样品置入样品孔2中，并使该块状样品位于中心位置3处，然后通过楔部4将带有块状样品的样品台1放置到X射线衍射仪，从而进行检测；另一种是用于测试粉末状样品的槽状样品架(未显示)。

对于样品台1而言，主要用于测试块状样品，而且仅能对一定尺寸范围内的块状样品进行测试，例如，样品台1要求待测的块状样品的厚度必须大于样品台1自身的厚度，只有这样才有可能将块状样品固定；对槽状样品架而言，主要用于测试粉末状样品，不适用于测试块状样品和薄片状样品。因而，传统的X射线衍射样品架均不适用于测试微米级甚至更薄的薄片状样品。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有的X射线衍射样品架不适用于测试薄片状样品的缺陷，而提供一种适用于测试薄片状样品的X射线衍射样品架。

本实用新型提供了一种X射线衍射样品架，该X射线衍射样品架包括样品台，该样品台上设置有样品孔，其中，所述X射线衍射样品架还包括支撑件，在使用时，所述支撑件位于所述样品孔内。

按照本实用新型提供的X射线衍射样品架，在传统样品台的基础上，添加了支撑件。当需要对薄片状样品进行测试时，可以将该薄片状样品设置在支撑件上，这样，薄片状样品和支撑件一起在整体形状上形成块状体，完全适用于传统样品架对待测样品的要求，从而实现便于对薄片状样品进行测试的本实用新型的目的，而且不需对传统的样品台进行任何改造。

附图说明

图1为传统的样品台的立体示意图；

图2为图1中样品台的平面示意图；

图3为本实用新型提供的X射线衍射样品架的立体示意图；

图4为图3中支撑件的立体示意图。

具体实施方式

下面参考附图，对本实用新型的具体实施方式进行详细的描述。

如图3所示，本实用新型提供的X射线衍射样品架包括样品台1，该样品台1上设置有样品孔2，其中，所述X射线衍射样品架还包括支撑件5，在使用时，所述支撑件5位于所述样品孔2内。在图3中的支撑件5上，还放置有待测样品6，显然，待测样品6与支撑件5一起在整体形状上组成了适用于样品台1进行测试的块状体，从而可以利用传统的样品台1方便地对待测样品6进行测试。

样品台1为用于检测块状样品的传统样品架，可以由铝合金或玻璃等材料制成。样品台1的样品孔2用于放置待测样品，而且通常需要将待测样品放置在样品孔2的中心位置3，以确保待测样品位于X射线入射光束的中心部分，从而可以准确地对待测样品进行测试。

当使用时，支撑件5位于样品孔2内，样品孔2可以为多种形状，如长方形、正方形、或圆形等，同时，支撑件5也可以为多种形状，如长方形、圆形等，只要可以满足将支撑件5放置在样品孔2内即可。在优选情况下，所述支撑件5与样品孔2为相同的形状，只是支撑件5的尺寸小于样品孔2的尺寸，以便可以将支撑件5放置在样品孔2内。例如，样品孔2和支撑件5均可以为正方形，且样品孔2的尺寸稍大于支撑件5的尺寸。

由于放置在支撑件5上的待测样品6与支撑件5一起在整体外形上形成块状体，从而使样品台1适用于对待测样品6进行测试，而且不需要对传统的样品台1进行任何结构上的改造。

如图4所示，支撑件5包括固定件7和由该固定件7固定支撑的载样板8，从而基本形成块状的立体形状。

支撑件5可以由多种材料制成，如玻璃、塑料等。在优选情况下，所述载样板8由质量轻且表面光滑的材料制成，如单晶片，如果待测样品6为纳米级厚度，为了减少背底干扰，可以使用硅单晶片制造载样板8；固定件7由质量轻且粗糙度大的材料制成，如粗糙载波片、泡沫、塑料或木片等。

包括固定件7和载样板8的支撑件5可以一体制成，或将分开的固定件7与载样板8结合而成。例如，支撑件5可以通过传统的制作玻璃的工艺制成一体的部件，也可以分别先制造两个板状的固定件7以及载样板8，然后通过粘结剂将固定件7和载样板8粘接起来。