[发明专利]光谱量测治具

说明书

技术领域

本发明涉及一种光谱量测治具。

背景技术

现代光学膜片在各个领域都具有举足轻重的应用，如红外截止滤光片(IR-Cut Filter)等，用于手机摄像头、数码相机、数码摄像机、电脑摄像头、安防监控器(CCTV)摄像头、可视电话、可视门铃等CCD(Charge Coupled Device，电荷耦合装置)数码成像系统或者CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor，互补金属氧化物半导体)数码成像系统，能够有效改善红外线对CCD/CMOS成像的影响，防止CCD/CMOS图像传感器产生伪色和波纹，提高彩色CCD、CMOS图像传感器有效分辨率和彩色还原性，请参阅Tanaka，T.等人在1990年IEEE上发表的论文HDTV single-chip CCD color camera，Consumer Flectronics，IEEETransactions on Volume 36，Issue 3，Aug 1990Page(s)：479-485。红外截止滤光片的光学性能体现在对特定波长如红外波长光线的穿透率上，因此，在现代工业生产和制造过程中对红外截止滤光片等光学膜片进行诸如穿透率量测之类的光谱量测是一项必须且十分重要的程序。

现有技术一般以光谱量测仪对光学膜片进行光谱量测，例如对红外截止滤光片的设定波长范围光的穿透率的量测。一般将未切割玻璃母片固定在治具上，对玻璃母片进行选点量测，最后将量测后的玻璃母片进行切割、滚圆得到产品。使用该治具进行先量测后切割滚圆得到产品的做法，无法对产品的品质和性能进行准确有效的控制，量测的准确率较低，因此，为了提高对产品品质量测的准确率，有必要直接对产品进行量测，但是不同批次的产品尺寸规格有差别，而一般治具具有固定的收容孔，当对小尺寸产品进行量测时，尺寸不合会造成准确率降低，而且容易在光学膜片边缘部分发生漏光的现象，造成量测上的误差。鉴于此，有必要提供一种光谱量测的治具，可以解决以上所述所有缺点，适用于不同尺寸产品的量测，并且消除量测时边缘漏光现象，从而提高量测准确率。

发明内容

本发明提供一种光谱量测治具，用于将光学膜片置于所述的光谱量测治具中进行光谱量测，其包括：一个固定板、一个置放板和一个光通量遮板。该固定板中心具有一第一透光孔。该置放板圆周具有若干个圆形且直径各不相同的收容孔，该收容孔具有一收容部和一个位于该收容孔底部中心的第二透光孔，且该第二透光孔孔径略小于该收容部的直径。所述光通量遮板，其具有若干个与所述收容孔相同数量的圆形的第三透光孔，所述若干个第三透光孔与所述若干个收容孔一一对应，且该每个所述若干个第三透光孔孔径分别略小于与其相对应的所述收容孔的收容部的直径。所述固定板分别与所述置放板和光通量遮板连接，所述光通量遮板设置于所述固定板与置放板之间，且所述置放板收容孔的收容部与所述光通量遮板相邻。

旋转所述置放板，使得所述第一透光孔能够选择性地与任意一个所述若干个收容孔及其底部第二透光孔对准。旋转所述光通量遮板，使得所述第一透光孔能够选择性地与任意一个所述若干个第三透光孔对准。

所述光谱量测治具，在实际使用过程中，要根据所述光学膜片尺寸规格，来设计所述收容孔的直径，使得该光学膜片，恰好能够放置在其中一个所述收容孔内，且能够完全盖住该其中一个所述收容孔底部的第二透光孔。调整所述置放板和光通量置板，使得所述第一透光孔、该其中一个所述若干个收容孔及其底部的第二透光孔，以及与该其中一个收容孔相对应的第三透光孔，四者孔心对准，使得所述光学膜片能够完全盖住所述与该其中一个收容孔相对应的第三透光孔。

以及，一种采用上述的光谱量测治具进行光谱量测的方法，其包括以下步骤：

(1)提供一所述光谱量测治具，将一片待进行光谱量测的光学膜片放置在所述光谱量测治具的圆形置放板的其中一个所述若干个收容孔内，且能够完全盖住该其中一个所述若干个收容孔底部的第二透光孔；

(2)调整所述置放板和光通量置板，使得所述第一透光孔、该其中一个所述若干个收容孔及其底部的第二透光孔，以及与该其中一个所述若干个收容孔相对应的第三透光孔，四者孔心对准，使得所述光学膜片能够完全盖住所述与该其中一个所述若干个收容孔相对应的第三透光孔；

(3)将所述光谱量测治具放入量测环境中，量测光线从所述固定板的与所述置放板和所述光通量遮板相对的一侧入射，且依次穿过第一透光孔、第三透光孔，到达所述其中一个所述若干个收容孔，再经光学膜片作用，作用后的光线继续穿过所述第二透光孔，达到量测端。