[发明专利]顺序输出熔丝切断信息的半导体器件和测试系统

权利要求书

1.一种半导体器件，包括：

多个熔丝；

多个锁存器电路，分别电连接到所述多个熔丝，将所述多个锁存器电路配置为存储来自所述多个熔丝的相应熔丝切断信息，然后顺序地将所述熔丝切断信息通过所述锁存器电路进行传送，以输出指示所述多个熔丝的熔丝切断状态的顺序数据。

2.根据权利要求1所述的半导体器件，还包括多个复用器，其每一个都响应于扫描允许信号将从对应锁存器之前的锁存器输出的熔丝切断信息和对应熔丝的熔丝切断信息之一选择性地输出到该对应锁存器。

3.根据权利要求2所述的半导体器件，其中，所述复用器的每一个都输出对应熔丝的熔丝切断信息，然后将从该之前锁存器接收来的熔丝切断信息输出到该对应锁存器。

4.根据权利要求1所述的半导体器件，还包括比较器，其将指示所述多个熔丝的熔丝切断状态的所述顺序数据与用户设置的熔丝切断信息进行比较，并且基于比较结果输出熔丝切断错误信息。

5.一种半导体器件，包括：

第一到第n熔丝组，每个都包括至少一个熔丝，其中n是正整数，所述第一到第n熔丝组输出指示相应至少一个熔丝是否处于切断状态中的相应第一到第n熔丝切断信息；和

第一到第n锁存器，分别锁存从相应第一到第n熔丝组输出的第一到第n熔丝切断信息；

其中将第一到第n锁存器配置为选择性地传送第一到第n熔丝切断信息以从第n锁存器顺序地输出。

6.根据权利要求5所述的半导体器件，还包括第一到第n-1复用器，其中每第m复用器包括下列部分，其中m等于1到n-1：

第一输入端，其接收第(m+1)熔丝切断信息；

第二输入端，其连接到第m锁存器的输出端；和

输出端，连接到第(m+1)锁存器的输入端。

7.根据权利要求6所述的半导体器件，其中，当扫描允许信息被去激活时每个复用器都输出第一输入，而当扫描允许信号被激活时输出第二输入。

8.根据权利要求6所述的半导体器件，其中，每个复用器可以操作以在第一模式下输出第一输入，而在随后的第二模式下输出第二输入。

9.根据权利要求5所述的半导体器件，还包括比较器，其将从第n锁存器输出的第一到第n熔丝切断信息与相应的用户设置的第一到第n熔丝切断信息比较。

10.根据权利要求9所述的半导体器件，其中所述比较器执行XOR运算或者XNOR运算。

11.根据权利要求5所述的半导体器件，其中，通过扫描时钟信号激活第一到第n锁存器的每一个。

12.根据权利要求11所述的半导体器件，其中，基于扫描允许信号和外部时钟信号来产生所述扫描时钟信号。

13.根据权利要求5所述的半导体器件，其中，第一到第n锁存器的每一个都是触发器电路。

14.一种测试系统，包括：

多个熔丝；

多个锁存器电路，分别电连接到所述多个熔丝，将所述多个锁存器电路配置为存储来自所述多个熔丝的相应熔丝切断信息，然后通过所述锁存器电路顺序地将所述熔丝切断信息进行传送以输出指示所述多个熔丝的熔丝切断状态的顺序数据；和

测试设备，其基于指示所述多个熔丝的熔丝切断状态的所述顺序数据来输出熔丝切断错误信息。

15.根据权利要求14所述的测试系统，其中，所述半导体器件还包括多个复用器，其每一个都响应于扫描允许信号，选择性地输出从对应锁存器之前的锁存器接收来的熔丝切断信息和熔丝的熔丝切断信息中之一到对应锁存器。

16.根据权利要求14所述的测试系统，其中，所述测试设备将指示所述多个熔丝的熔丝切断状态的所述顺序数据与用户设置的熔丝切断信息进行比较，并且基于比较结果输出熔丝切断错误信息。