[发明专利]用于修复平面显示面板的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种修复平面显示面板的方法，更具体地，涉及这样一种用于修复平面显示面板的方法，其中，使用激光将单元修复处理之后产生的亮像素转换成暗像素，以便降低产品缺陷率，使产品利用率提高。而且，为了提高处理效率，在转换成暗像素的处理之后当光发射(lighttransmission)低于特定值时，替代使用激光将亮像素转换成暗像素的处理，使用分配器(dispenser)将修复处理应用于还没有转换成暗像素的红(R)、绿(G)、蓝(B)和黑(BK)像素，从而优化整个修复处理。

背景技术

通常，显示器被用作人与电子设备之间的接口。此类显示器作为信息显示设备，把从各类电子设备输出的电子信息信号转换成光信息信号，以便于人从视觉上识别此类信息。在这些显示器中，平面显示面板包括液晶显示器(LCD)、等离子体显示面板(PDP)、场发射显示器(FED)、有机发光二极管(OLED)等。

图1是说明传统薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)的横截面图。

如图1中所示，该TFT-LCD被配置成包括：TFT阵列衬底、偏振器、像素电极、累积电容、定向层(alignment layer)、密封剂、间隔物(spacer)、TFT、液晶、公共电极(ITO)、滤色器、黑矩阵(black matrix)等。

液晶(LC)单元处理被包括在制造作为平面显示面板之一的TFT-LCD的整个处理中。

该LC单元处理指的是制造单位LC单元的处理，其中，将驱动电路提供给已完成的TFT衬底和滤色器衬底，使得可以通过信号来驱动单位LC单元。

LC单元处理的特征在于：与TFT处理或滤色器处理相比，正常情况下不需要重复处理。整个LC单元处理可以粗略地分为：定向层形成处理，用于定向LC分子；单元间隙形成处理；液晶注射处理；以及偏振膜附着处理。

各个处理具有不同特点，并因此需要不同的工艺，如聚合物薄膜形成处理、摩擦处理、使用真空的液晶注射处理等。

在液晶单元处理之前，执行单元修复处理来修复LC单元。

然而，在传统技术中没有用于修复在单元修复处理之后产生的亮像素的方法。所以，需要一种用于修复亮像素的方法。而且，应当提出一种可以优化整个处理的修复处理。

发明内容

因此，本发明针对上述问题而被提出，并且，本发明的一个目的是提供一种用于修复平面显示面板的方法，因为使用激光将单元修复处理之后产生的亮像素转换成暗像素，其可以降低产品缺陷率，从而使产品利用率提高。该方法也可以优化整个修复处理，这是因为在将亮像素转换成暗像素之后当光发射低于特定值时，使用分配器将修复处理应用于还没有转换成暗像素的红(R)、绿(G)、蓝(B)和黑(BK)像素，来替代使用激光将亮像素转换成暗像素的处理，从而提高了处理效率。

根据本发明的一个方面，上述和其他目的可以通过提供一种用于修复平面显示面板的方法来实现，所述方法包括：执行单元修复处理；确定在单元修复处理之后是否已经产生亮缺陷；当已经产生亮缺陷时，执行修复处理，以便将亮像素转换成暗像素；确定在修复处理之后光发射是否低于特定值；以及当光发射低于特定值时，使用分配器来修复还没有转换成暗像素的红(R)、绿(G)、蓝(B)和黑(BK)像素。

优选地，确定是否已经产生亮缺陷的步骤确定当由于一个或多个原因而产生缺陷时亮缺陷是否已经出现，所述一个或多个原因是：液晶内的粒子、栅极开路(gate open)、像素与数据线间短路、a-Si残留、像素通道(pixel channel)短路、TFT特性差、跨数据线的像素间短路、像素下的数据线残留、没有接触孔、S/D开路以及跨栅极线的像素间短路。

优选地，执行修复处理的步骤是使用激光来执行的。

优选地，当光发射超过特定值时，执行修复处理的步骤被再次执行。

附图说明

根据以下结合附图的详细描述，本发明的上述和其他目的、特征以及其他优势将得到更清楚地理解，在附图中：

图1是说明传统平面显示面板的横截面图；

图2是描述根据本发明的一个实施例的用于修复平面显示面板的方法的流程图；

图3是说明由于平面显示面板上的粒子而产生缺陷的一个例子的横截面图，该缺陷可以通过图2的方法来解决；

图4是说明平面显示面板上产生的各类缺陷的一个例子的顶视图，这些缺陷可以通过图2的方法来解决；

图5是说明应用图2的用于修复平面显示面板的方法的例子的横截面图；