[发明专利]加热处理装置有效
申请号: | 200710095853.8 | 申请日: | 2007-04-10 |
公开(公告)号: | CN101055433A | 公开(公告)日: | 2007-10-17 |
发明(设计)人: | 岛井太 | 申请(专利权)人: | 东京应化工业株式会社 |
主分类号: | G03F7/38 | 分类号: | G03F7/38;G03F7/40;H01L21/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 雒运朴;徐谦 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 加热 处理 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种可以降低加热处理中的升华物的产生(析出)的加 热处理装置。
背景技术
在半导体设备或液晶板的制造工序当中,对应当处理的基板进行洗 净工序、涂敷工序、曝光工序、干燥工序等的各种工序。在这些的制造 工艺流程的中间工序中,设置有预焙工序以及后焙烘工序,将基板配置 在加热处理装置内,在加热处理之后移送至后继的工序中。
这里,作为使已涂敷在基板上的涂敷液干燥的加热处理装置,已知例 如专利文献1中所揭示的构成。在这样的构成中,虽然为了使设置在载置 台的加热单元的温度分布均匀,或制作出溶剂浓厚的气氛的构成,研究在 载置台的上方设置顶板来减小基板上方的空间的构成,但还是产生了例如 升华物。
此外,在专利文献2中,虽然公开如下构成:通过使被加热至与加热 单元的加热温度大致相等温度的N2气体向处理装置内供给并同时进行排 气,就可以在短时间内更换处理装置内的气体,但仍很难除去已产生的升 华物。
专利文献1:日本特许第3324902号
专利文献2:日本特开平10-12552号
然而,本发明人对加热处理进行了各种的实验以及解析的结果是判 定:当采用如上述的减小基板上方的空间的构成时,在处理中溶剂不仅 从形成于基板表面的涂敷膜中汽化,包含在涂敷液中的低分子的树脂或 染料等的升华性的物质也同时汽化。升华性的物质(所谓升华物),由 于在处理室内的低温部分析出,所以特别容易在处理室(筐体)内的上 方(上侧壁表面)析出。由此,若在上方这样析出的话,则有在基板上 堆积的危险。
由此,如果欲使处理室内(基板上)的温度分布均匀,则无法回避 升华物的问题。
此外,随着基板尺寸大型化,无法均等地加热基板整体,也会有局 部地生成涂敷液的干燥不均等的问题。而且除此之外,由于加热基板的 加热单元自身也被大型化,所以可预想到例如装置自身的搬送也变得困 难。
发明内容
鉴于上述的问题点,本发明提供一种既可以使基板上方的温度分布 均匀也可以降低升华物的产生的加热处理装置。
本发明是至少具有筐体;可以升降地配置于筐体内的载置台;设置 于载置台上,并对载置于该载置台上的基板加热的第1加热单元的加热 处理装置,在筐体的一侧设置有第2加热单元,并在筐体的另一侧设置 有排气机构。
根据本发明涉及的加热处理装置,由于其是在筐体的一侧设置有第 2加热单元,并在筐体的另一侧设置有排气机构的构成,所以当实际上 使排气机构和第2加热单元动作时,在筐体内,可以在载置台的上方流 动热风。即通过在另一侧进行排气,就可以使一侧的加热了的空气(热 气)在载置台的上方流动。
由此,例如如上所述因减小基板上方的空间而即便在筐体内(例如 在载置台上)产生升华物,也可以利用热风向排气侧吸排出,可以降低 在低温部分的升华物的发生。由于流动着热风,所以空间内的温度不会 紊乱。
在上述的加热处理装置中,当构成为加热处理单元被分割为多个 时,除了上述作用之外,还可以更加局部且细致地调整基板表面的温度 分布。
此外,在上述的加热处理装置中,当构成为在筐体的上部设置有第 3加热单元时,除了上述作用之外,还可以降低例如在筐体上部的附近 发生的升华物,与仅有第2加热单元时相比可进一步降低升华物的产生。
此外,在上述加热处理核装置中,当构成为在加热机构和载置台之 间设置有隔板时,除了上述作用之外,还可以整流载置台上方的空间的 热风的流动。此外,也可以用隔板一定程度地阻止例如来自加热机构的 放射热的传播,可以降低对基板的反射热的影响。
根据本发明涉及的加热处理装置,由于可以使温度分布均匀外,并 且也可以降低升华物的产生,所以能以高信赖性实现加热处理装置。
附图说明
图1是表示本发明的加热处理装置的一个实施方式的剖视图。
图2是表示第1加热单元的一个实施方式的构成的俯视图。
图3是在盖子上设置有第2加热单元的情况的构成图(其1)。
图4是在盖子上设置有第2加热单元的情况的构成图(其2)。
图5是表示第1加热单元的其他的实施方式的俯视图。
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