[发明专利]监控闪存擦写性能的方法

权利要求书

1.一种监控闪存擦写性能的方法，其特征在于，采用缩紧规格的方法进行擦写性能测试，包括如下步骤：

(1)在擦写性能测试程序中设立一个较严的规格，使其大于实际使用规格；

(2)对每个测试对象记录在步骤(1)设立的规格下擦写1次时失效的擦写次数和重复擦写2次仍失效时的擦写次数；

(3)计算每个测试对象在步骤(2)中两个记录的擦写次数的比值，对该比值进行数据处理，用该比值来监控擦写性能；所述的对该比值进行数据处理具体为：对该比值做对数正态的分布，并比较该对数正态的分布与基准晶片的分布，比较分布的均值和斜率。

2.如权利要求1所述的监控闪存擦写性能的方法，其特征在于，步骤(1)中，所述设立的较严的规格为存储单元电流下降到初始值的75％。

3.如权利要求1所述的监控闪存擦写性能的方法，其特征在于，所述的比较该对数正态的分布与基准晶片的分布主要通过如下步骤：首先，得到基准晶片的对数正态的分布，提取两个分布参数均值和斜率，作为以后监控的参考值，根据该分布，确定均值的分布范围和斜率的分布范围；然后，得到监控晶片的对数正态的分布，看其均值和斜率是否在上述基准晶片确定的均值和斜率分布范围内，如果是，则符合基准标准，如果否，则需要继续分析是否符合基准标准。