[发明专利]一种带有焦油颗粒的气体的分析方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种气体分析方法和装置，特别涉及一种带有焦油颗粒的气体的分析方法和装置。

背景技术

目前，在钢铁、焦化等领域中通常需要测量过程气体中氧气、一氧化碳等气体成分的浓度。但在上述应用领域中，一些过程管道中的气体含有较多量的焦油颗粒，被测气体中粘稠的焦油颗粒会附着在分析仪器的各种部件上，造成测量误差增加甚至无法测量。

所述焦油的成分极为复杂，但大致可分为轻油和重油；重油包括酚油、萘油、洗油、一蒽油、二蒽油和沥青等，轻油的沸点低于重油。

针对上述问题，一般的测量办法是：先对过程管道内的气体进行取样，然后使用固态过滤器过滤掉样气中的焦油颗粒，之后再使用分析仪器测量过滤后的气体。直接使用固态过滤器去过滤粘稠的焦油颗粒，主要有以下不足：若过滤器的孔太细，则粘稠的焦油颗粒极易堵塞过滤器，进而造成下游气体分析仪器无法获得被测气体。若过滤器的孔太粗，则下游的气体中仍含有较多量的焦油颗粒，造成下游的气体分析仪器测量误差增加甚至损坏。常规的解决方法是：使用过滤精度高的过滤器，然后每隔一段时间使用高温蒸汽去反吹所述固态过滤器，清理附着在过滤器上的焦油颗粒；这样的清理通常不够彻底，经过较长时间的使用后还需把所述固态过滤器拆下用有机溶剂进行清洗或更换。该方法不仅维护工作量大，下游气体分析仪器的使用效率也较低；再有，一些微小的粘稠的焦油颗粒还会透过过滤器，从而污染下游的分析仪器，不仅进一步增加维护工作量，严重的还会损坏精密的分析仪器。

发明内容

本发明解决的技术问题是克服现有技术存在的不足，提供了一种维护量小、焦油去除效率高、成本低的分析带有焦油颗粒的气体的方法和装置。

本发明的目的是通过下述技术方案得以实现的：

一种带有焦油颗粒的气体的分析方法，所述方法包括以下步骤：

a.把待处理气体通入装在密封容器内的液体中，待处理气体中的焦油颗粒在所述液体中溶解；

b.所述气体在排出液体的过程中被过滤；

c.排出液体的气体通入分析仪器，得到气体的参数。

所述液体是四氯化碳。

所述步骤b中使用安装在所述液体液面下部的过滤装置过滤。

所述过滤装置平板过滤装置。

为了实现上述方法，本发明还提出了这样一种带有焦油颗粒的气体的分析装置，包括焦油颗粒去除装置和分析仪器；其特征在于：所述焦油颗粒去除装置包括一密封容器；所述密封容器上安装进气管和出气管，所述密封容器内装有液体和过滤装置，所述进气管的一端伸入过滤装置下的液体中，所述出气管与所述分析仪器相连通。

所述过滤装置安装在所述液体液面的下部。

所述过滤装置是平板过滤装置。

所述密封容器的上部设有进口。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：1)工程维护量小，需要清理过滤装置时，只需自动放掉密封容器内的液体并更换；2)提高了下游气体分析仪器的使用效率，经过溶解并过滤后的气体中焦油颗粒含量已经极少或没有，对下游的分析仪器的测量不构成影响；同时也提高了下游气体分析仪器的的测量精度。

附图说明

图1是本发明的一种带有焦油颗粒的气体的分析装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本发明作进一步详尽描述。

实施例：

如图1所示，一种用于实现本发明的带有焦油颗粒的气体的分析方法的装置，应用在焦化领域中。所述分析装置包括焦油颗粒去除装置和分析仪器2。所述焦油颗粒去除装置包括密封容器1。所述分析仪器2是半导体激光吸收光谱分析仪。

所述密封容器1上安装进气管11和出气管12，内部装有液体13和过滤装置14，本实施例中的液体13使用四氯化碳，过滤装置采用平板过滤网，安装在所述液体13液面的下部。所述进气管11的一端伸入到过滤装置14下的液体13中。所述密封容器上部的侧壁上设有进液口15，底部设有出液口16，端盖上还设有进口17，用于向密封容器1内通入高温蒸汽。

本实施例还揭示了一种带有焦油颗粒的气体的分析方法，也即上述分析装置的工作过程，所述方法包括以下步骤：

a.待分析气体通过进气管11通入到密封容器1内的液体13中，气体中的焦油颗粒被四氯化碳溶解；

b.未被溶解的少部分焦油颗粒被所述过滤装置14过滤，最后气体通过出气管12排出；

c.排出液体13的气体通入分析仪器2，得到气体中一氧化碳的浓度。