[发明专利]计算机笔划变形系统和方法

权利要求书

1.一种计算机笔划变形方法，所述方法包括下述步骤：

提供多个笔划的轮廓样本，以构成样本空间，其中所述多个轮廓样本分别由 相应的样本向量来表示；

对所述多个样本向量排序，使所述多个经排序的样本向量与其平均向量的差 的平方和最小；

对于所述经排序的样本向量，求出其协方差矩阵的所有特征向量；

从所述求得的特征向量中，选出多个最能反映样本特征的特征向量；

用所述多个被选出的特征向量，构成一特征矩阵，并按下式建立统计模型：

X≈X‾+Φb]]>

其中，是所述经排序的样本向量的平均向量，Ф是所述特征矩阵，b是参数 向量，X是变形后获得的笔划向量；以及

改变所述参数向量的分量，以获得经变形的笔划向量，

其中，对所述多个样本向量排序的所述步骤包括下述步骤：

(a)将所述多个样本向量中每个样本向量的重心平移到原点，获得多个经平移 的样本向量；

(b)以所述多个经平移的样本向量中的一个向量为基准，对所述多个经平移的 样本向量进行归一化，以获得多个经归一化的样本向量；

(c)相对于所述基准，对所述多个经归一化的样本向量进行对齐操作，以获得 多个经对齐的样本向量；

(d)对所述多个经对齐的样本向量，求出平均向量，并且相对于所述基准，对 所述平均向量进行对齐操作，以获得经对齐的平均向量；

(e)判断所述经对齐的平均向量与所述基准的偏差是否大于一设定值；

(f)如果判断结果是大于所述设定值，则将经对齐的平均向量用作新的基准， 对所述多个经对齐的样本向量进行归一化，并且返回到上述步骤(c)进行循环；

(g)如果判断结果不大于所述设定值，则输出上述获得的多个经对齐的样本向 量作为所述多个经排序的样本向量。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述经对齐的平均向量与所述基 准的偏差是所述经对齐的平均向量与所述基准之间的距离。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，从所述求得的特征向量中选出多 个最能反映样本特征的特征向量的所述步骤包括下述步骤：

求出与所述所有特征向量相对应的特征值；

由大到小对所述特征值排序；

由大到小选出多个特征值，使得

Σi=1tλi≥fvVT]]>

其中，λ_i表示特征值，t表示被选出的所述特征值的个数，V_T表示所有特征值λ_i的总 和，而f_v是一个设定值，用于反映将要建立的统计模型所涵盖的样本变化的比例 值，

其中，所述选出的多个特征值分别与所述选出的特征向量相对应。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述被选出的特征向量的个数为 3，并且所述参数向量具有三个分量，其中第一分量基本上表征经变形获得的笔划 的“肥”或“瘦”，第二分量基本上表征经变形获得的笔划的“长”或“短”，第 三分量基本上表征经变形获得的笔划的“方”或“圆”。