[发明专利]晶圆背面减薄工艺有效

专利信息
申请号: 200710042458.3 申请日: 2007-06-22
公开(公告)号: CN101327572A 公开(公告)日: 2008-12-24
发明(设计)人: 黄河;陈建华;高大为;毛剑宏 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: B24B37/04 分类号: B24B37/04;B24B29/00;H01L21/304
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 逯长明
地址: 201203*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 背面 工艺
【权利要求书】:

1.一种三维封装工艺中的晶圆背面减薄工艺,其特征在于,在两片晶圆的边 缘间隙填入填充物质,所述填充物质为硅胶,对所述填充物质进行烘烤使其 固化,以防止后续抛光时研磨浆流入两片晶圆的边缘间隙造成的研磨浆颗粒 在研磨压力的作用下导致的晶圆边缘断裂,然后对于晶圆背面进行研磨来减 薄晶圆厚度,并在研磨完成后对于晶圆背面进行抛光,在所述抛光后的晶圆 上再粘上一片晶圆,重复上述步骤,直至多片晶圆达到一定厚度,所述厚度 至少满足在研磨抛光时,不致使晶圆破裂,将所述多片晶圆翻转,采用与上 述相同的方法对最下面的晶圆背面减薄,即:先对晶圆背面进行研磨来减薄 晶圆厚度,并在研磨完成后对于晶圆背面进行抛光。

2.如权利要求1所述的晶圆背面减薄工艺,其特征在于,所述填充物质通过 点胶机填入晶圆边缘间隙。

3.如权利要求1所述的晶圆背面减薄工艺,其特征在于,填入填充物质的厚 度为0.5至2mm。

4.如权利要求1所述的晶圆背面减薄工艺,其特征在于,所述烘烤的温度为 120-400℃。

5.如权利要求1所述的晶圆背面减薄工艺,其特征在于,所述对于晶圆背面 进行研磨使用金刚砂轮。

6.如权利要求1所述的晶圆背面减薄工艺,其特征在于,所述对于晶圆进行 抛光使用含炭化硅颗粒的研磨浆。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200710042458.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top