[发明专利]测量调心滚子轴承外圈径向跳动的方法无效

专利信息
申请号: 200710040825.6 申请日: 2007-05-18
公开(公告)号: CN101308009A 公开(公告)日: 2008-11-19
发明(设计)人: 阎卫增;刘斌;陈新萍 申请(专利权)人: 人本集团有限公司
主分类号: G01B5/20 分类号: G01B5/20
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 代理人: 胡美强
地址: 325011浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 测量 滚子 轴承 外圈 径向 跳动 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种调心滚子轴承,尤其涉及一种测量调心滚子轴承外圈径向跳动的方法。

背景技术

调心滚子轴承是由一个双滚道的内圈,两列球面滚子、保持架和一个大球面的外圈组成。主要用来承受径向载荷,同时也能承受一定的轴向负荷。该类轴承外圈滚道是球面形,故具有调心性能。调心滚子轴承的主要应用于轧钢机、造纸机械、工程机械、破碎机、印刷机械、振动筛、减速装置、铁路车辆、木工机械、各类产业用减速机等。调心滚子轴承的外圈径向跳动(旋转精度)直接影响其配套主机的工作精度,同时对调心滚子轴承的使用寿命有重要关系。因此控制好调心滚子轴承的外圈径向跳动(旋转精度)就显得非常重要。

在现有的调心滚子轴承生产过程当中,其成品的外圈径向跳动的测量是采用这样的方法:一方面通过内、外圈及滚子的加工精度来间接控制其成品的外圈径向跳动量;另一方面通过和其结构类似的轴承外圈径向跳动检测方法来检测。但由于现有的机械式轴承外圈径向跳动仪自身就有很大的测量误差,而且使用起来要做相应的工装配件,其复杂程度和效率很难满足工厂的生产现状。因此在现在的常规生产中,调心滚子轴承的外圈径向跳动检测几乎处于失控状态,产品质量的好坏存在不确定性,也降低了产品的可靠性。

发明内容

本发明需要解决的技术问题是提供了一种测量调心滚子轴承外圈径向跳动的方法,旨在解决上述的问题。

为了解决上述技术问题,本发明是通过以下步骤实现的:

利用D913A轴承套圈外径测量仪或D914A轴承套圈外径测量仪的测量基准面为调心滚子轴承内、外圈端面共面的基准面,通过轴承的自身轴向游隙使其内、外圈端面和D913A(或D914A)的测量基准面重合,使调心滚子轴承内、外圈端面处于同一平面内;

利用D913A轴承套圈外径测量仪或D914A轴承套圈外径测量仪测量基准面上的梯形槽和与之相应的带梯形帽螺栓、内圈固定平板的配合;固定调心滚子轴承的内圈端面能和仪器测量基准面重合并固定,用手转动外圈并使外圈端面也和测量基准面重合;做到外圈相对于内圈转动,并且内、外圈端面处于同一基准面上;

测量点的高度为离测量基准面较远的滚子与外圈接触点与测量基准面的距离,公差范围可取±0.10mm;

具体测量数值的读取通过D913A轴承套圈外径测量仪或D914A轴承套圈外径测量仪仪器上的指示表来读取。

与现有技术相比,本发明的有益效果是:实现了对调心滚子轴承的外圈径向跳动的控制,增加了其产品质量的可靠性能;而且操作简便,效率也很高。

具体实施方式

下面结合具体实施方式对本发明作进一步详细描述:

本发明是通过以下步骤实现的:

利用D913A轴承套圈外径测量仪或D914A轴承套圈外径测量仪的测量基准面为调心滚子轴承内、外圈端面共面的基准面,通过轴承的自身轴向游隙使其内、外圈端面和D913A(或D914A)的测量基准面重合,使调心滚子轴承内、外圈端面处于同一平面内;

利用D913A轴承套圈外径测量仪或D914A轴承套圈外径测量仪测量基准面上的梯形槽和与之相应的带梯形帽螺栓、内圈固定平板的配合;固定调心滚子轴承的内圈端面能和仪器测量基准面重合并固定,用手转动外圈并使外圈端面也和测量基准面重合;做到外圈相对于内圈转动,并且内、外圈端面处于同一基准面上;

测量点的高度为离测量基准面较远的滚子与外圈接触点与测量基准面的距离,公差范围可取±0.10mm;

具体测量数值的读取通过D913A轴承套圈外径测量仪或D914A轴承套圈外径测量仪仪器上的指示表来读取。

本发明中由于调心滚子轴承的可调心性,要测量其外圈的径向跳动,必须使其内、外圈端面处于同一平面内。因此利用D913A轴承套圈外径测量仪或D914A轴承套圈外径测量仪的测量基准面为调心滚子轴承内、外圈端面共面的基准面,通过调心滚子轴承自身的轴向游隙使其内、外圈端面和D913A或D914A的测量基准面重合,使调心滚子轴承内、外圈端面处于同一平面内。

利用D913A轴承套圈外径测量仪或D914A轴承套圈外径测量仪测量基准面上的梯形槽和与之相应的带梯形帽螺栓、内圈固定平板的配合;固定调心滚子轴承的内圈在仪器测量面上,使轴承端面和仪器测量基准面重合,并固定。用手转动外圈并使外圈端面也和测量基准面重合;做到外圈相对于内圈转动,并且内、外圈端面处于同一基准面,即仪器测量基准面上。

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