[发明专利]一种三重态激子扩散长度和能量转移长度的测量方法

权利要求书

1.一种三重态激子扩散长度和能量转移长度的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

a、按照阳极、空穴传输层、主体材料及荧光染料层、主体材料层、主体材料及磷光染料层、电子传输层、阴极的顺序，制作不同厚度的主体材料层的磷光有机发光二极管，其中，所述的主体材料及荧光染料层为复合区，所述的主体材料层为空间隔离层，所述的主体材料及磷光染料层为发光层；

b、按照阳极、空穴传输层、主体材料及荧光染料层、主体材料及磷光染料层、电子传输层、阴极的顺序，制作不同厚度的主体材料及磷光染料层的磷光有机发光二极管，其中，所述的主体材料及荧光染料层为复合区，所述的主体材料及磷光染料层为发光层；

c、使用步骤a所制作的不同厚度的主体材料层的磷光有机发光二极管，在相同电流密度的驱动下，分别检测每个磷光有机发光二极管的磷光染料分子的发射强度，记录发射强度及复合区厚度的数值，得出两者近似为线性减小的关系，并延长实验曲线，当磷光染料分子的发射强度降为零时，这时空间隔离层的厚度就是三重态激子的扩散长度；

d、使用步骤b所制作的不同厚度的主体材料及磷光染料层的磷光有机发光二极管，在相同电流密度的驱动下，分别检测每个磷光有机发光二极管的磷光染料分子的发射强度，记录发射强度及发光层厚度的数值，得出两者为指数上升的关系，当磷光染料分子的发射强度不再随着发光层厚度的增加而增加时，这时的发光层的厚度近似的为三重态激子的能量转移长度。

2.根据权利要求1所述的一种三重态激子扩散长度和能量转移长度的测量方法，其特征在于，所述步骤a中的主体材料层厚度为Xnm，所述电子传输层的厚度为40-Xnm，所述X的取值范围是：0≤X≤40。

3.根据权利要求1所述的一种三重态激子扩散长度和能量转移长度的测量方法，其特征在于，所述步骤b中的复合区的厚度为Ynm，所述发光层的厚度为50-Ynm，所述Y的取值范围是：0≤Y≤50。