[发明专利]存储芯片读写装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及到一种存储芯片读写装置，特别是涉及到一种提高及分析效率的存储芯片读写装置。

背景技术

现在主板BIOS存储芯片大都采用SPI(Serial Peripheral Interface)协议的芯片来作为数据存储。在对主板BIOS的测试中，需要读取该芯片中存储的数据，并对数据进行分析得出结果；通常采用ATE设备读写BIOS存储芯片程序，但是其不能对有问题的主板进行调试，且不能将芯片内数据读出来进行分析，直接影响主板维修效率。因此，急需一种装置能在维修主板或者对主板进行除错时重写SPI BIOS芯片内数据，或者将芯片内数据读出来进行分析。同时还能侦测主板在开机时CPU是否有读写SPI BIOS的内容，判定主板问题点，提高了维修及分析主板的效率。

发明内容

本发明提出了一种操作方便的存储芯片读写装置，解决了主板维护及分析的效率。

本发明的技术方案为：一种存储芯片读写装置，其连接到存储芯片测试控制端和被测存储芯片，本装置有：一应用控制程序，其设置于该存储芯片测试控制端；此应用控制程序设有一读写模块，可在测试过程中读、写该被测存储芯片内数据；一读取监测模块，可监测到被测芯片中程序是否有被读取，对不能被读取的数据，该读取监测模块发出一提示信息。

一读写接口，其电性连接到该存储芯片测试控制端和该被测存储芯片之间；该读写接口内设一微处理器，此微处理器有一侦测与转换模块，此模块可侦测与控制端电脑或存储芯片连接的端口是否连通，如果连通则可进行信号的传输，同时可实现接口间信号的转换，将数据信号分别转换到测试控制端和被测存储芯片所需数据信号；还有一信号接收与发送模块设置于该微处理器，读写接口可通过此模块与该应用控制程序信号互通。

该应用控制程序还设有一显示界面，可将被测芯片内数据显示出来。

本存储芯片读写装置，是利用设置于控制端电脑中的应用控制程序，控制该读写接口连接到该被测存储芯片，对该存储芯片进行测试，且可对被测新片中的错误数据进行重写；同时，该应用控制程序通过一显示界面，将该被测存储芯片内的数据和测试结果详细显示出来，可迅速判定问题点，提高维修效率。

本发明还提出了一种存储芯片读写方法，其中该读写方法包括读方法和写方法，以下将读写方法分别阐述：

一种存储芯片读写方法，该读取该存储芯片数据方法的步骤如下：

第一步，应用控制程序向读写接口发送读数据命令；

第二步，读写接口接收该命令并返回一接收成功命令；

第三步，读写接口读取被测存储芯片中数据；

第四步，读写接口向应用控制程序发送读取数据成功命令；

第五步，应用控制程序从读写接口中读取被测存储芯片数据。

在第五步后可加入步骤：使用该应用控制程序设有的一显示界面，将读取到的被测芯片内数据显示出来。

由于测试控制端与被测存储芯片的数据传输接口不同，本方法通过一读写接口转接，使测试控制端读取到被测存储芯片中的数据，同时，使用将数据显示出来，可方便测试进行。

一种存储芯片读写方法，在写入数据之前，先确定好需要写入的数据，再执行该写入该存储芯片数据方法的步骤：

第一步，应用控制程序向读写接口发送写数据命令；

第二步，读写接口接收该命令并返回一接收成功命令；

第三步，应用控制程序将数据写入读写接口中；

第四步，读写接口向应用控制程序发送写入数据成功命令；

第五步，读写接口将应用控制程序所写入数据再传送到被测存储芯片中。

通过上述方法可方便将所需数据写入到该被测存储芯片中，可修复该存储芯片中的数据错误。

附图说明

图1为本发明装置结构示意图。

图2为本发明读写方法的读数据方法示意图。

图3为本发明读写方法的写数据方法示意图。

图4为本发明之装置使用测试中应用控制程序读数据流程图。

图5为本发明之装置使用测试中应用控制程序写数据流程图。

图6为本发明之装置使用测试中读写接口执行读数据流程图。

图7为本发明之装置使用测试中读写接口执行写数据流程图。

具体实施方式

以下结合附图详述本发明的实施例。