[发明专利]集成电路的时序、噪声和功率分析

权利要求书

1.一种补偿制造缺陷的方法，其包含：

接收电路设计，所述电路设计具有包括多个器件和多个互连的布 置；

确定互连形状中的第一变化和器件形状中的第二变化；

把所述第一变化转换为寄生变化，并把所述第二变化转换为器件 变化；

通过修改所述电路设计的至少一部分产生修改的电路设计以包括 所述寄生变化和所述器件变化中的一个或一个以上；

通过仿真所述修改的电路设计的操作确定电路的制造版本的性能 参数中的预测的变化；

其中产生修改的电路设计包括通过应用所述寄生变化和所述器件 变化中的至少一个到所述电路设计内的单元来修改所述单元；和

将修改的电路设计存储在非易失性计算机可读存储介质上；

其中所述寄生变化包括电容变化，并且确定所述电容变化包括：

把每个互连分离成矩形子节，其中每个矩形子节通过至少一个尺 寸表示；

将所述矩形子节分离成多个板；以及

计算由放置在所述多个板的每个其他板上的单位电荷造成的每个 板上的电势系数；和

产生包括每个互连的全部板的电势系数的电势矩阵；

通过将所述电势矩阵求逆产生电容矩阵，所述电容矩阵包括所述 互连的全部板的电容；和

通过使用所述电容矩阵的信息合计所述子节的相应板之间的电容 来确定任何一对子节之间的电容。

2.根据权利要求1所述的方法，进一步包括根据所述修改的电路 设计的模拟操作计算性能参数。

3.根据权利要求2所述的方法，其中所述性能参数包括时序。

4.根据权利要求3所述的方法，其中所述时序包括信号时序延迟。

5.根据权利要求2所述的方法，其中所述性能参数包括信号完整 性。

6.根据权利要求5所述的方法，其中所述信号完整性包括所述器 件的阈值电压和输出电阻中的一个或一个以上。

7.根据权利要求2所述的方法，其中所述性能参数包括功率消耗。

8.根据权利要求7所述的方法，其中所述功率消耗包括所述器件 流出的截止态电流。

9.根据权利要求1所述的方法，所述方法包含选择所述电路设计 的一组标准单元为其确定预测的变化，其中所述标准单元从构成所述 电路设计的多个标准单元中选择。

10.根据权利要求9所述的方法，所述方法包含：

执行所述多个标准单元的时序分析，所述时序分析产生每个标准 单元的时序间隙，所述时序分析在产生所述修改的电路设计之前执行； 和

为所述组选择任意标准单元，对于该标准单元，所述时序间隙低 于第一阈值。

11.根据权利要求9所述的方法，所述方法包含：

执行所述多个标准单元的噪声分析，所述噪声分析产生每个标准 单元的噪声值，所述噪声分析在产生所述修改的电路设计之前执行； 和

为所述组选择任意标准单元，对于该标准单元，所述噪声值超过 第二阈值。

12.根据权利要求9所述的方法，所述方法包含：

通过修改所述电路设计内的所述组的标准单元而把所述寄生变化 和所述器件变化应用到所述标准单元来产生修改的标准单元；

通过把所述寄生变化应用到导线负载产生修改的导线负载；

为所述修改的标准单元和修改的导线负载提供输入波形；和

确定所述修改的标准单元的预测的变化，所述性能参数包括跨越 所述修改的标准单元的延迟和所述修改的标准单元的输出波形。