[发明专利]用于研磨机的独立测量装置

权利要求书

1.一种柱体、辊和类似元件(11)的几何参数的测量装置(50)，用于在通过独立运动来研磨所述柱体的机器上操作的扁平产品的轧制，即通过独立于研磨轮或其它部件的平移运动的运动，其特征在于：它包括至少四个传感器(54、55)，它们位于与柱体(11)或辊正交的平面上，且至少两个所述传感器布置在相对的位置。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：至少两个所述传感器位于彼此在直径上相对的位置。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：它装备有承载至少一个传感器(54)的臂(52)和承载至少一个传感器(55)的臂(53)，且所述传感器沿径向定位在相对于所处理的柱体、辊或类似元件(11)的轴线的垂直的平面上，以便对于所有可处理的形状和尺寸都能够相对于柱体、辊和类似元件的表面正交定位。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：它装备有承载至少三个上部传感器(54)的上部臂(52)以及承载至少一个下部传感器(55)的下部臂(53)，且所述传感器沿径向定位在相对于所处理的柱体、辊和类似元件(11)的轴线的垂直的平面上，以便对于所有可处理的形状和尺寸都能够使它相对于柱体、辊和类似元件的表面正交定位。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于：至少一个下部传感器(55)定位成与至少一个所述上部传感器(54)在直径上相对。

6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：所述装置装配在结构(51)上，该结构(51)设想成通过至少一个臂(52、53)的平移来定位，以便在测量阶段中与柱体、辊或类似元件(11)接触。

7.根据前述任意一个权利要求所述的装置，其特征在于：所述结构(51)设想成通过至少一个臂(52、53)的平移和/或旋转而被打开/关闭，以便能够装载和/或卸载柱体、辊和类似元件。

8.根据前述任意一个权利要求所述的装置，其特征在于：结构和/或表面缺陷的检测系统也可以设想(寄生电流和/或超声波装置和/或粗糙度计和/或硬度计等)用于定位在结构(51)上的柱体、辊和/或类似元件，它们在任何情况下总是与独立量规系统的支承和/或平移系统成一体。

9.根据前述任意一个权利要求所述的装置，其特征在于：还设想了研磨机(10)的自动控制系统，它执行用于完整的柱体、辊和/或类似元件(11)的几何标绘的测量步骤，所述自动和/或标绘系统用于执行反馈处理，用于更新研磨参数和/或报告目的。

10.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：它用于研磨纸厂的柱体、辊和类似元件，更通常是用于平的铁和非铁或钢的辊轧部分和/或领域，例如船舶发动机和/或大尺寸液压系统的结构。

11.一种用于柱体、辊和类似元件的研磨机(10)，其特征在于：它包括根据一个或多个前述权利要求的测量装置。

12.一种用于柱体、辊和类似元件的研磨机(10)，其特征在于：它包括根据一个或多个前述权利要求的测量装置，且它包括一个或多个基座。

13.一种用于柱体、辊和类似元件的研磨机(10)，其特征在于：它包括根据一个或多个前述权利要求的测量装置，该测量装置布置在传感器的三个或更多支承臂上。