[发明专利]多重散射校正

权利要求书

1.一种用于检查感兴趣对象(107)的检查装置(100)，该检查装置(100)包括：

辐射源(104)，其适于发射电磁辐射；

检测器部件，其具有至少一个用于采集辐射强度数据的检测单元(123)；

预处理部件(125)，所述预处理部件(125)适于：

确定所述辐射强度数据的特征峰附近的第一多重散射强度；

基于所述第一多重散射强度校正所述辐射强度数据。

2.根据权利要求1所述的检查装置(100)，

其中，所述检测器部件包括第一检测单元(123)和第二检测单元(123)；以及

其中，对所述第一检测单元(123)和所述第二检测单元(123)执行所述确定过程。

3.根据权利要求1所述的检查装置(100)，

其中，所述检测器部件还包括第三检测单元(124)，其用于采集透射强度数据；

其中，基于对对于所述第一检测单元和所述第二检测单元中的每一个测得的全部能量范围的第二多重散射强度的估计，来执行所述校正；以及

其中，基于所述第一多重散射强度和所述透射强度数据执行所述估计。

4.根据权利要求2所述的检查装置(100)，

其中，所述预处理部件(125)还适于对多个所述检测单元(123)的相邻检测单元的所述第一多重散射强度进行平滑。

5.根据权利要求1所述的检查装置(100)，

其中，所述检查装置(100)适于作为计算机断层摄影装置、相干散射计算机断层摄影装置、吸收成像系统、或X射线散射检查装置中的一种。

6.根据权利要求1所述的检查装置(100)，还包括：

准直仪(105)，其布置在所述辐射源(104)和所述检测单元(123)之间；

其中，所述准直仪(105)适于准直由所述辐射源(104)发射的电磁辐射，从而形成扇形束或锥形束中的一种。

7.根据权利要求1所述的检查装置(100)，其中，所述检测单元(123、124)形成单层检测器阵列。

8.根据权利要求1所述的检查装置(100)，其中，所述检测单元(123、124)形成多层检测器阵列(108)。

9.根据权利要求1所述的检查装置(100)，配置为包括下列的组中的一种：行李检验装置、医疗应用装置、材料测试装置和材料科学分析装置。

10.根据权利要求1所述的检查装置(100)，其中，所述辐射源(104)适于发射包括至少一个特征峰的多色X射线束。

11.一种使用检查装置(100)检查感兴趣对象(107)的方法，该检查装置(100)包括适于发射电磁辐射的辐射源(104)、具有至少一个用于采集辐射强度数据的检测单元(123)的检测器部件，以及预处理部件(125)，所述方法包括如下步骤：

确定所述辐射强度数据的特征峰附近的第一多重散射强度；以及

基于所述第一多重散射强度校正所述辐射强度数据。

12.一种使用检查装置检查感兴趣对象(107)的图像处理设备，该图像处理设备包括：

用于存储辐射强度数据的存储器；

预处理部件(125)，其适于：

确定辐射强度数据的特征峰附近的第一多重散射强度；以及

基于所述第一多重散射强度校正所述辐射强度数据。

13.一种计算机可读介质(402)，其中存储了使用检查装置(100)检查感兴趣对象(107)的计算机程序，当由处理器(401)执行时，该计算机程序适于实施下列步骤：

确定辐射强度数据的特征峰附近的第一多重散射强度；以及

基于所述第一多重散射强度校正所述辐射强度数据。

14.一种检查感兴趣对象(107)的程序单元，其当由处理器(401)执行时适于实施下列步骤：

确定辐射强度数据的特征峰附近的第一多重散射强度；以及

基于所述第一多重散射强度校正所述辐射强度数据。