[发明专利]用发光标签对材料编码的方法以及用于将其读出的仪器

说明书

相关申请的交叉引用

本申请主张2005年2月18日提交的美国临时申请No.60/653,980的 优先权，其全部内容通过引用结合于此。

技术领域

本发明涉及一种用发光标签编码物质的方法以及一种用发光标签阅读 物质的装置。本发明还涉及一种用于检验物体真实性的方法和系统。

背景技术

当暴露于紫外线时会发荧光的物质在本领域是众所周知的。所述荧光 材料吸收某一波长的紫外辐射并发出更长波长的紫外或热辐射。通过提供 只在用紫外线照射时才可见的方式对物体或材料做印记或加标签的手段， 荧光材料在打击伪造中有很多用途。

荧光共振能量转移(FRET)也是本领域公知的，其中第一荧光材料 吸收紫外光，所述第一荧光材料发出波长在第二荧光材料的吸收谱内的辐 射。取决于荧光材料的种类，由所述第一荧光材料发出的辐射全部或部分 被所述第二荧光材料吸收，而所述第二荧光材料发出第三个更长波长的辐 射。

讨论所述物质的各个方面及其使用的现有技术文件是Dorion的美国 专利No.3,801,782，Cyr等人的公布号为WO98/22291的国际申请，以 及Smuk等人的加拿大专利申请No.2,449,171，其全部内容通过引用结 合于此。

发明内容

为了处理已知技术的上述及其他的缺点，根据本发明，提供一种用于 鉴别发光标签的方法，该方法包括步骤：提供代表在两个发光带内发射的 相对光强的参考标签；触发所述发光标签；在所述两个发光带内测量所述 被触发标签发射的光强；以及将所述测量强度与所述所代表的强度进行比 较。如果所述测量强度与所述所代表强度匹配，所述发光标签就被确认。

根据本发明，还提供一种检验物体真实性的方法，该方法包括步骤： 将发光标签与所述物体关联；通过在至少两个发光带内调整发射的相对光 强来对所述发光标签进行编码；以及通过触发所述发光标签、测量由此发 射的光谱以及将所述测量光谱与参考光谱进行比较来鉴别所述物体。

根据本发明，进一步提供一种检验物体真实性的系统，该系统包括与 所述物体关联的发光标签，所述发光标签被编码以在触发时在至少两个发 光带内以预定的相对光强发光；代表所述预定的强度的参考标签；以及可 以使用所述参考标签的监测站，所述站由分光计、数据处理器及输出装置 组成，并被配置以通过分光计测量由所述编码标签在所述发光带内发射的 光强，将所述测量强度与所述预定的强度进行比较并通过所述输出装置显 示所述测量强度是否与所述预定的强度匹配。

根据本发明，更进一步提供所述系统用于反伪造的使用方法。

根据本发明，再进一步提供一种鉴别发光标签的仪器，该仪器包括： 代表在两个发光带内发射的相对光强的参考标签；用于测量在所述发光带 内从所述发光标签发射的光强的分光计；被配置以将所述测量强度与所述 所代表强度进行比较的数据处理器；以及显示所述测量强度是否与所述所 代表强度匹配的输出装置。如果所述测量强度与所述所代表强度匹配，所 述物体被确认。

根据本发明，再进一步提供一种计算机可读的存储介质，其中包含有 用于指示计算机系统的操作的计算机可读程序，该系统由分光计、数据处 理器、存储装置及输出装置组成，其中所述计算机可读程序由指令组成， 所述指令用于操作所述计算机系统以根据以下步骤来鉴别与物体关联的发 光标签：在所述存储装置中存储代表在两个发光带内发射的相对光强的参 考标签；通过所述分光计测量在所述发光带内从所述发光标签发射的光强； 利用所述处理器将所述测量强度与所述所代表强度进行比较；以及通过所 述输出装置显示所述测量强度是否与所述所代表强度匹配。如果所述测量 强度与所述所代表强度匹配，所述物体被确认。

根据本发明，再进一步提供一种将发光编码并入材料的方法，包括步 骤：将施主发光物质与受主发光物质组合，其中所述施主物质的发射光谱 与所述受主物质的吸收光谱重叠；用紫外辐射的高功率源照射所述组合物 质，所述辐射包含落入所述施主物质吸收光谱内的波长；调整所述辐射的 能量，使得当所述组合物质随后被紫外辐射的低功率源照射时，所述施主 物质可测量的发射强度与所述受主物质峰值可测量的发射强度之比为预定 的比率；将所述组合物质与所述材料组合。

参考附图，阅读下述仅通过示例给出的说明性实施例的非限制性描述， 本发明的其他目标、优点和特征将会更加明显。