[发明专利]用发光标签对材料编码的方法以及用于将其读出的仪器无效
申请号: | 200680008981.8 | 申请日: | 2006-02-17 |
公开(公告)号: | CN101297190A | 公开(公告)日: | 2008-10-29 |
发明(设计)人: | B·D·源;D-H·江;M·T·源 | 申请(专利权)人: | 美洲染料资源公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;C09K11/00;G07D7/12 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 杨晓光;于静 |
地址: | 加拿大*** | 国省代码: | 加拿大;CA |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发光 标签 材料 编码 方法 以及 用于 读出 仪器 | ||
1.一种用于编码发光标签的方法,所述发光标签包含至少两种发光化 合物的复合物,其中每一种在至少一个发光带内发光,其中所述发光化合 物包含至少一个施主化合物和至少一个受主化合物,所述施主化合物的发 射光谱与所述受主化合物的吸收光谱重叠,
该方法包含以下步骤:
准备代表在至少两个发光带内发射的参考相对光强的参考标签;
初始以低功率电磁辐射源照射所述发光标签,从而所述发光标签发出 初始相对光强;以及
通过如下编码所述发光标签:用高功率电磁辐射源照射所述发光标签, 调整所述高功率电磁辐射源的能量,以致当所述发光标签随后被随后的低 功率电磁辐射源照射时,测量的由发光标签发出的相对光强被相对于所述 初始相对光强调节,以匹配所述参考标签的所述参考相对光强,所述高功 率电磁辐射源包含在所述施主化合物的吸收光谱内的波长。
2.如权利要求1所述的方法,其中所述参考标签包含所述参考相对光 强的参考比率,以及其中所述编码步骤包含根据所述测量的由所述发光标 签随后发出的相对光强的比率调整所述高功率电磁辐射源的能量,以匹配 所述参考相对光强的所述参考比率。
3.如权利要求1所述的方法,其中所述参考相对光强和所述测量的由 发光标签发出的相对光强分别包含所述参考标签的至少两个发光带内的参 考峰值发射强度和测量峰值发射强度。
4.如权利要求3所述的方法,其中所述参考标签包含每个所述参考峰 值发射强度的代表波长。
5.如权利要求1所述的方法,其中所述低功率电磁辐射源是紫外线辐 射源。
6.如权利要求1所述的方法,其中所述至少两个发光带包含紫外波段 和红外波段中的至少一个。
7.如权利要求1所述的方法,其中所述参考标签代表在多个发光带内 发射的参考相对光强。
8.如权利要求1所述的方法,其中所述准备步骤包括准备多个参考标 签,其中每一个代表各自的参考相对光强,其中所述编码步骤包括,根据 测量的由所述发光标签随后发出的相对光强调整所述高功率电磁辐射源的 能量,以匹配任何所述各个参考相对光强。
9.一种用于检验物品真实性的方法,该方法包括步骤:
将发光标签与所述物品关联,所述发光标签包含至少两种发光化合物 的复合物,其中每一种在一个发光带内发光,其中所述发光化合物包含至 少一个施主化合物和至少一个受主化合物,所述施主化合物的发射光谱与 所述受主化合物的吸收光谱重叠,初始以低功率电磁辐射源照射所述发光 标签,从而所述发光标签发出初始相对光强;
通过如下编码所述发光标签:用高功率电磁辐射源照射所述发光标签, 调整所述高功率电磁辐射源的能量,以致当所述发光标签随后被随后的低 功率电磁辐射源照射时,调整的由发光标签发出的相对光强被相对于所述 初始相对光强调节,以匹配至少两个发光带内的参考光强;以及
通过触发所述发光标签、测量由此发射的光谱以及将所述测量光谱与 参考光谱进行比较来鉴别所述物品;
其中,如果所述测量光谱与所述参考光谱匹配,所述物品被确认。
10.如权利要求9所述的方法,其中所述编码步骤进一步包括保留和 所述参考光谱一样的所述调整的由发光标签发出的相对光强的光谱。
11.如权利要求9所述的方法,其中所述参考光谱是预定的,而其中 所述编码步骤进一步包括调整所述调整的相对光强以匹配所述参考光谱。
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