[实用新型]适合于蚀刻高纵横比结构的衬底支座无效
申请号: | 200620132701.1 | 申请日: | 2006-06-30 |
公开(公告)号: | CN201054347Y | 公开(公告)日: | 2008-04-30 |
发明(设计)人: | S·帕马希;H·道;X·周;K·A·麦克唐纳;J·迪内夫;F·阿布阿马里;D·E·居蒂耶雷;J·Z·何;R·S·克拉克;D·M·科绍;J·W·迪茨;D·斯坎伦;S·德斯姆科;A·帕藤森;J·P·霍兰 | 申请(专利权)人: | 应用材料有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 赵蓉民 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 适合于 蚀刻 纵横 结构 衬底 支座 | ||
1.一种适合用于半导体处理室中的衬底支座,其特征在于,该衬底支座包括:
静电卡盘,该静电卡盘包括:
具有由上壁、中壁和下壁限定的外部直径的主体,其中所述中壁的高度小于所述下壁的高度且大于所述上壁的高度;以及
嵌入所述主体中的箝位电极。
2.根据权利要求1所述的衬底支座,其特征在于,该主体进一步包括陶瓷。
3.根据权利要求1所述的衬底支座,其特征在于,进一步包括:
在所述上壁和所述中壁之间限定的上凸缘;和
在所述中壁和所述下壁之间限定的下凸缘。
4.根据权利要求3所述的衬底支座,其特征在于,所述上凸缘比所述下凸缘短。
5.根据权利要求1所述的衬底支座,其特征在于,进一步包括:
设置在所述主体中的电阻式加热器。
6.根据权利要求1所述的衬底支座,其特征在于,进一步包括:
设置在所述主体中的至少一个温度传感器。
7.根据权利要求1所述的衬底支座,其特征在于,进一步包括:
设置在所述主体中的第一温度传感器,以及
第二温度传感器,其设置在在所述主体中,在所述第一传感器的径向向内侧。
8.根据权利要求1所述的衬底支座,其特征在于,进一步包括:
基座;以及
连接到所述基座且部分地延伸进入所述主体的升降销导引组件。
9.根据权利要求8所述的衬底支座,其特征在于,所述基座进一步包括:
在所述基座中形成的至少两个隔离的冷却管道,所述管道中适合流动传热流体。
10.根据权利要求9所述的衬底支座,其特征在于,所述基座进一步包括:
嵌入在所述基座中的热隔离体,其在每个隔离的冷却管道之间。
11.根据权利要求8所述的衬底支座,其特征在于,升降销导引组件进一步包括:
导引装置,其具有与所述主体的下表面中的凹槽啮合的上凸起和下凸起;以及
保持装置,其连接到所述基座,且具有围绕所述下凸起的至少一部分延伸的套筒。
12.根据权利要求11所述的衬底支座,其特征在于,所述升降销导引组件进一步包括:
夹在所述导引装置和所述保持装置之间的弹性元件。
13.一种适合用于半导体处理室中的衬底支座,其特征在于,该衬底支座包括:
静电卡盘,该静电卡盘包括:
具有在阶梯状外壁上限定的具有上凸缘和下凸缘的陶瓷主体,所述上凸缘比所述下凸缘短;以及
嵌入所述主体中的箝位电极;
基座;以及
连接到所述基座且部分地延伸入所述主体的升降销导引组件。
14.根据权利要求13所述的衬底支座,其特征在于,所述阶梯状外壁进一步包括:
上壁;
中壁;以及
下壁。
15.根据权利要求14所述的衬底支座,其特征在于,所述中壁的高度比所述下壁的高度小且比所述上壁的高度大。
16.根据权利要求15所述的衬底支座,其特征在于,进一步包括:
设置在所述主体中的电阻式加热器;
设置在所述主体中的第一温度传感器;以及
设置在所述主体中的第二温度传感器,所述第二温度传感器设置在所述第一温度传感器的径向向内侧。
17.根据权利要求13所述的衬底支座,其特征在于,所述基座进一步包括:
在其中形成的至少两个隔离的冷却管道,所述冷却管道中适合流动传热流体。
18.根据权利要求17所述的衬底支座,其特征在于,所述基座进一步包括:
嵌入在所述基座中的热隔离体,其在每个隔离的冷却管道之间。
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