[发明专利]磁盘控制设备、磁盘设备和校正读取错误的方法无效

专利信息
申请号: 200610169489.0 申请日: 2006-12-15
公开(公告)号: CN101097756A 公开(公告)日: 2008-01-02
发明(设计)人: 竹村纪昭;原一郎;水户雅之 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G11B20/10 分类号: G11B20/10;G11B5/09;G06F11/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 李辉;吕俊刚
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 磁盘 控制 设备 校正 读取 错误 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种用于校正错误和防止数据丢失的技术。

背景技术

在磁盘设备中,其磁性材料的磁化方向由于老化而改变,到一定时候,可能不能正确地读取存储在其中的数据。例如,日本专利申请特开No.2006-139581公开了一种技术,当在一扇区中发生可校正的读取错误时,该技术通过将从该扇区读取的数据重写到同一扇区,使磁性材料的磁化方向恢复到其初始方向。这种将从一扇区读取的数据重写到同一扇区以对可能导致严重错误的错误进行校正的处理被称为重写。

近年来,随着多媒体的发展,在作为用于存储图像和音乐的介质的磁盘设备中,需要更大的储存容量。因此,磁盘设备的存储密度大大增加,这使得过去不值得注意的问题引起严重错误。

例如,在将数据写入特定扇区时,磁道之间的小间距(其被减小以增加存储密度)导致侧擦除(side erase)。在侧擦除中,磁头的磁通泄漏影响相邻磁道的扇区。重复的侧擦除可能导致宽范围的错误。

但是,根据该常规技术,数据仅被重写到其中发生了可校正的读取错误的扇区。当在如上所述的宽范围中存在错误时,所有的错误都未被校正。因此,在部分扇区被重写之后,在周围扇区中常常发生严重错误,并且不能读取这些扇区中的数据。

发明内容

本发明的一个目的是至少部分地解决常规技术中的问题。

根据本发明的一个方面,一种磁盘控制设备控制对磁盘驱动器的读取和写入访问,并且恢复在读取访问过程中发生了可校正读取错误的位置,该磁盘控制设备包括:错误区域预测单元,用于在由于某种原因而发生可校正读取错误时,预测磁盘驱动器上的可能由于该原因而发生错误的区域,并指定该区域作为预测区域;以及校正单元,其通过重写该预测区域来校正该预测区域。

根据本发明的另一方面,一种磁盘设备对在对磁盘驱动器的读取访问过程中发生了可校正读取错误的位置进行恢复,该磁盘设备包括:错误区域预测单元,用于在由于某种原因而发生可校正读取错误时,预测磁盘驱动器上的可能由于该原因而发生错误的区域,并指定该区域作为预测区域;以及校正单元,其通过重写该预测区域来校正该预测区域。

根据本发明的另一方面,一种校正读取错误的方法对在对磁盘驱动器的读取访问过程中发生了可校正读取错误的位置进行恢复,该方法包括:当由于某种原因而发生可校正读取错误时,预测磁盘驱动器上的可能由于该原因而发生错误的区域,并指定该区域作为预测区域;以及通过重写该预测区域来校正该预测区域。

当结合附图考虑时,通过阅读本发明的目前优选实施例的下列详细描述,将更好地理解本发明的上述及其他目的、特征、优点和技术以及工业重要性。

附图说明

图1A至1D是用于说明根据本发明实施例的校正读取错误的方法的示意图;

图2是根据该实施例的磁盘设备的框图;

图3是图2所示的读取错误校正器的功能框图;

图4是图3中所示的错误历史表的内容的一个示例;

图5是读取错误校正器的操作的流程图;

图6是图5所示的经扩展的重写处理的详细流程图;

图7是图5所示的替换过程的详细流程图;

图8是图2所示的盘片(platter)上的区域的一个示例;

图9是用于说明在相邻扇区中发生多个错误的情况的示意图;以及

图10A至10D是用于说明校正读取错误的常规方法的示意图。

具体实施方式

下面将参照附图详细说明本发明的示例性实施例。

首先参照图10A至10D说明校正读取错误的常规方法的概要。

图10A是用于说明在磁道1至3的扇区7至17周围的宽范围中发生读取错误的情况的示意图。在宽范围中发生读取错误有多种可能的原因,并且它们通常与磁盘设备的存储密度的提高相关。这些原因的示例包括侧擦除、峰值失真、矫顽力(Hc)变化以及微小缺陷。

侧擦除是由于在将数据写入到特定扇区时磁头的磁通泄漏而导致的,这影响了相邻磁道的扇区,并且不能正确地读取数据。在一次写入操作中,其他磁道上的磁通泄漏的影响较小。但是,当这种泄漏被积累时,在多个磁道中发生读取错误。因为磁道之间的间距被减小以增加磁盘设备的存储密度,所以侧擦除现象越来越明显。

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