[发明专利]缺陷管理方法和使用该方法的光驱无效
申请号: | 200610159802.2 | 申请日: | 2006-09-22 |
公开(公告)号: | CN101064155A | 公开(公告)日: | 2007-10-31 |
发明(设计)人: | 江俊颖;翁益馨 | 申请(专利权)人: | 联发科技股份有限公司 |
主分类号: | G11B20/10 | 分类号: | G11B20/10;G11B20/18;G11B7/00 |
代理公司: | 上海翼胜专利商标事务所 | 代理人: | 翟羽 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 缺陷 管理 方法 使用 光驱 | ||
【技术领域】
本发明是关于一种在记录媒体例如光盘中进行缺陷管理的方法,特别是关于一种具有缺陷处理表列的光盘的缺陷管理方法和具有缺陷处理表列的光驱。
【背景技术】
如图1所示,通常,一片光盘10(例如DVDRAM盘片)分成导入区(LIA)11、用户数据区13和导出区(LOA)15。此外,在主备用区(PSA)17之前形成有用户数据区13,在用户数据区13之后形成有辅助备用区(SSA)19。
对于用户数据区的每一个已记录缺陷(例如缺陷纠错块),在备用区域都有一个与其对应的替换(例如替换纠错块)。如图1所示的例子中,在用户数据区有三个缺陷纠错块101、103、105,在主备用区17则有三个分别与前述缺陷纠错块101、103、105对应的替换纠错块111、113、115。
当对光盘10进行写入时,读写头写入光盘的用户数据区的第一部分,当记录到第一缺陷纠错块101时则停止写入,此过程被称为“记录1”。此时读写头跳到主备用区写入用以替换缺陷纠错块101的替换纠错块111,此过程被称为“记录2”。然后读写头继续在缺陷纠错块101后面的用户数据区13的第二部分写入,当记录到第二缺陷纠错块103时则停止写入,该过程被称为“记录3”。然后读写头跳到主备用区写入用以替换缺陷纠错块103的替换纠错块113,该过程被称为“记录4”。然后读写头继续在缺陷纠错块103后面的用户数据区13的第三部分写入,当记录到第三缺陷纠错块105时则停止写入,该过程被称为记录5。然后读写头跳到主备用区写入用以替换缺陷纠错块105的替换纠错块115,该过程被称为“记录6”。
如图1所示及前述所述,读写头需要不断地来回移动以在用户数据区以及替换纠错块写入完好的数据。如图2所示,一种减少读写头搜寻次数的方法是设立一个缓冲存储器20。在写入操作过程中,当遇到缺陷纠错块时不立即写入替换纠错块,而是将缺陷纠错块的数据暂时储存在缓冲存储器内。在整个写入操作完成之后,再将储存在缓冲存储器中的缺陷纠错块的数据依序写入对应的替换纠错块。然而该方法需要相当大的内存容量。
因此,确有必要提供一种新的技术方案以克服现有技术中的前述缺陷。
【发明内容】
本发明的主要目的在于提供一种在例如DVD盘片等记录媒体中进行缺陷管理的方法,其利用缺陷处理表列,占用较小的内存空间即可减少读写头获取与用户数据区中缺陷纠错块对应的替换纠错块所需的搜寻时间。
本发明的另一目的是提供一种缺陷处理表列,其设置于计算机可读媒体例如缓冲器内。缺陷处理表列用于指示与缺陷对应的替换的存取位置。在写入或读取过程中,所有在用户数据区的缺陷和与缺陷对应的替换的相关信息都被添加到缺陷处理表列中,如此可以同时获取与缺陷对应的替换。由于缺陷处理表列(DPT)中储存的是与缺陷和与缺陷对应的替换的相关信息,而非直接储存缺陷纠错块的数据,因此其仅占用很少的内存空间。本发明提供一种缺陷处理表列管理单元以管理缺陷处理表列里的内容。该缺陷处理表列有若干个条目,每一条目包括一个缺陷的缺陷相关信息。在本发明的一种实施例中,该缺陷处理表列包括若干列,每一条目位于一列内。缺陷相关信息包括指示缺陷位置的信息、指示替换位置的信息以及指示缺陷储存在该内存内位置的缺陷索引。
本发明的再一目的是提供一种光驱,其包括具有缺陷处理表列的计算机可读媒体和管理单元,一种具有前述缺陷处理表列和缺陷处理表列管理单元的装置。
【附图说明】
图1是简略显示现有光盘的通常结构。
图2是简略显示一种处理如图1所示光盘中的缺陷的现有方法。
图3是根据本发明的光盘的缺陷处理方法的示意图。
图4是简略显示根据本发明的光驱的方块示意图。
图5是简略显示根据本发明的缺陷处理表列的示意图。
图6是简略显示一张光盘的结构,该光盘内的缺陷和替换块在读取操作中是采用本发明的方法处理。
图7A至图7E是显示根据本发明的一个实施例在读取过程中的缺陷处理程序。
图8是简略显示一张光盘的结构,该光盘内的缺陷和替换块在写入操作中是采用本发明的方法处理。
图9A至图9F是显示根据本发明的一个实施例在写入过程中的缺陷处理程序。
【具体实施方式】
请参阅图3和图4所示,其中图3是根据本发明的处理光盘中缺陷的方法的示意图,图4是根据本发明的光驱的方块示意图。在图3中所示的该光盘的结构与图1和图2中所示的结构相同,其中相同的元件标号表示相同的部分。
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