[发明专利]一种发光二极管的电性参数测试电路

说明书

技术领域

本发明涉及电子电路测试领域，特别涉及到一种发光二极管的电性参数测试电路。

背景技术

通常发光二极管经封装完成后，需要对其电性参数或光学参数进行测试，以确保其相关性能指标和可适用性。以前的测试方法主要是利用专用的发光二极管仪器完成，普遍存在效率低，精准度低的缺点；目前普遍使用的是自动化程度较高且精度较高的电路完成测试，该测试方法比以前的人工分光相比，存在很大的进步，但其本身仍存在一些缺陷，比如在测试发光二极管正向电压时，发光二极管与正向恒流源导通后，发现通过发光二极管的正向电流随时间的延长有所降低，并且降到一顶程度后才会稳定，因此，直接导致了所测发光二极管正向电压值偏高；并且在不同的电压环境下，测试发光二极管的各项电性参数都会有较大误差；在测试电路中所选用的电子元器件的精度，灵敏度不同，往往也会导致测试结果存在误差，并且电流源或电压源的调整范围较小，同样也影响了可测试发光二极管对象的范围。

发明内容

本发明提供了一种发光二极管的电性参数测试电路，其中，电阻R1、R2与R3串联，连接在地线与恒压源/恒流源之间，由计算机上层控制软件控制恒压源/恒流源的输出，电阻R2两端的取样电压与指定的标准电压源均通过切换电路输入至计算机上层控制软件；标准电压源接入电路，构成本电路的校准回路；计算机上层控制软件分别与D/A恒压源基准和D/A恒流源基准相接，所述D/A恒压源基准和D/A恒流源基准分别提供了各自的参考电压，所述D/A恒压源基准通过与其对应的比较器的一个输入端与恒压源相连，电阻R2和R3之间的节点电位与比较器的另一个输入端相连，形成与恒压源相关的反馈电路，该比较器的输出端与恒压源连接，恒压源与其反馈电路路构成本电路的恒压控制回路；在所述的第二回路中，比较器将电阻R2和R3之间的节点电位和D/A恒压源基准的输入电压进行比较判断，确保FH点电位处于所控制的电位范围之内；所述D/A恒流源基准通过与其对应的比较器的一个输入端与恒流源相连，电阻R1两端的取样电压与比较器的另一个输入端相连，形成与恒流源相关的反馈电路，该比较器的输出端与恒流源连接，恒流源与其反馈电路路构成本电路的恒流控制回路；所述的第三回路中与D/A恒流源基准相对应的比较器将电阻R1两端的取样电压与D/A恒流源基准提供的输入电压进行比较判断，确保通过R1的电流在控制的有效范围之内；测试待测发光二极管时，电阻R3与电阻R1、R2断开，待测发光二极管与电阻R1、R2串联。

通过以上技术方案可以看出，本发明有以下优点：

首先，电路中设置有标准电源，提供整个电路自检标准电源，防止测试产生误差；

其次，D/A恒流源基准和D/A恒压源基准分别提供高精度的恒流源和恒压源的参考电压；

再次，集成运算放大器和单管放大组合方式提供电源，提高电源输出功率；

最后，电路中包括反馈电路，提高了电源的输出精度。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明：

图1是本发明提供发光二极管的电性参数测试电路的电路图；

图2是图1所示电路的原理流程图；

图3为本发明第一实施例流程图；

图4为本发明第二实施例流程图。

具体实施方式

图1描述的是本发明所提供的发光二极管的电性参数测试电路的电路图，其中，电阻R1、R2与R3串联，连接在电源与地线与恒压源/恒流源之间，由计算机上层控制软件控制恒压源/恒流源的输出，电阻R2两端的取样电压与指定的标准电压源均通过切换电路输入至计算机上层控制软件；标准电压源接入电路，可以完成对整个电路进行校验；计算机上层控制软件分别与D/A恒压源基准和D/A恒流源基准相接，所述D/A恒压源基准通过与其对应的比较器的一个输入端与恒压源相连，电阻R2和R3之间的节点电位与比较器的另一个输入端相连，形成与恒压源相关的反馈电路，该比较器的输出端与恒压源连接，恒压源与其反馈电路路构成本电路的第二回路；所述D/A恒流源基准通过与其对应的比较器的一个输入端与恒流源相连，电阻R1两端的取样电压与比较器的另一个输入端相连，形成与恒流源相关的反馈电路，该比较器的输出端分别与恒流源连接，恒流源与其反馈电路路构成本电路的第三回路；发光二极管与电阻R3可开关并联，并上报发光二极管的两端电压至计算机上层软件显示。

图2描述的是发光二极管的电性参数测试电路的电路图的原理流程图。包括步骤：