[发明专利]读写头悬浮量控制方法和单元、存储装置和计算机可读程序无效
申请号: | 200610132219.2 | 申请日: | 2006-10-12 |
公开(公告)号: | CN101075470A | 公开(公告)日: | 2007-11-21 |
发明(设计)人: | 高桥刚 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 |
主分类号: | G11B21/21 | 分类号: | G11B21/21;G11B5/60;G11B5/02 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李辉;吕俊刚 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 读写 悬浮 控制 方法 单元 存储 装置 计算机 可读 程序 | ||
1、一种读写头悬浮量控制单元,该读写头悬浮量控制单元用于对分别具有加热器的多个读写头中的每一个相对于记录介质的读写头悬浮量进行控制,该读写头悬浮量控制单元包括:
检测部,其被构造用于通过检测热粗糙峰或读取误差来检测各个读写头与相应记录介质之间的接触,并且将检测到所述接触时所述加热器的加热量判定为所述读写头悬浮量为零的状态;以及
控制部,其被构造用于根据所述加热器的加热量与各个读写头的热膨胀量之间的关系,将各个读写头的读写头悬浮量控制为最优读写头悬浮量。
2、根据权利要求1所述的读写头悬浮量控制单元,其中,所述控制部根据加热控制参数将各个读写头的读写头悬浮量控制为所述最优读写头悬浮量,所述加热控制参数包括要施加给所述加热器的加热器电流或者所述加热器的加热器功率。
3、根据权利要求2所述的读写头悬浮量控制单元,其中,所述加热控制参数存储在所述记录介质上,或者存储在具有所述读写头和所述记录介质的存储装置内的存储器中。
4、根据权利要求2所述的读写头悬浮量控制单元,其中,对于所述记录介质的各个区存储所述加热控制参数。
5、根据权利要求3所述的读写头悬浮量控制单元,其中,对于所述存储装置的各个环境温度存储所述加热控制参数。
6、根据权利要求3所述的读写头悬浮量控制单元,其中,所述加热控制参数是在所述存储装置出厂之前进行的测试处理期间存储的,或者是在所述存储装置出厂后进行自动调整校准时存储的。
7、一种存储装置,该存储装置包括:
分别具有加热器的多个读写头;
接触检测部,其被构造用于通过检测热粗糙峰或读取误差来检测各个读写头与相应记录介质之间的接触;以及
控制部,其被构造用于根据所述加热器的加热量与各个读写头的热膨胀量的关系,将在检测到所述接触时所述加热器的加热量视为所述读写头悬浮量为零的状态,将各个读写头的读写头悬浮量控制为最优读写头悬浮量。
8、根据权利要求7所述的存储装置,其中,所述控制部根据加热控制参数将各个读写头的读写头悬浮量控制为所述最优读写头悬浮量,所述加热控制参数包括要施加给所述加热器的加热器电流或者所述加热器的加热器功率。
9、根据权利要求8所述的存储装置,其中,所述加热控制参数存储在所述记录介质上,或者存储在所述存储装置内的存储器中。
10、根据权利要求8所述的存储装置,其中,对于所述记录介质的各个区以及/或者对于所述存储装置的各个环境温度存储所述加热控制参数。
11、根据权利要求9所述的存储装置,其中,所述加热控制参数是在所述存储装置出厂之前进行的测试处理期间存储的,或者是在所述存储装置出厂后进行自动调整校准时存储的。
12、一种读写头悬浮量控制方法,该读写头悬浮量控制方法用于对分别具有加热器的多个读写头中的每一个相对于记录介质的读写头悬浮量进行控制,该读写头悬浮量控制方法包括以下步骤:
通过检测热粗糙峰或读取误差来检测各个读写头与相应记录介质之间的接触,并且将检测到所述接触时所述加热器的加热量判定为读写头悬浮量为零的状态;以及
根据所述加热器的加热量与各个读写头的热膨胀量之间的关系,将各个读写头的读写头悬浮量控制为最优读写头悬浮量。
13、一种计算机可读程序,该计算机可读程序用于使计算机对分别具有加热器的多个读写头中的每一个相对于记录介质的读写头悬浮量进行控制,该计算机可读程序包括以下过程:
使所述计算机通过检测热粗糙峰或读取误差来检测各个读写头与相应记录介质之间的接触,并且将检测到所述接触时所述加热器的加热量判定为读写头悬浮量为零的状态;以及
使所述计算机根据所述加热器的加热量与各个读写头的热膨胀量之间的关系,将各个读写头的读写头悬浮量控制为最优读写头悬浮量。
14、一种存储有根据权利要求13所述的计算机可读程序的计算机可读存储介质。
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