[发明专利]一种评价球镍中值电压性能的方法无效
| 申请号： | 200610109964.5 | 申请日： | 2006-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN101131414A | 公开（公告）日： | 2008-02-27 |
| 发明（设计）人： | 李永胜 | 申请（专利权）人： | 比亚迪股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/36 | 分类号： | G01R31/36;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王凤桐;王敬波 |
| 地址： | 518119广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 评价 中值 电压 性能 方法 | ||
1.一种评价球镍中值电压性能的方法，其特征在于，该方法包括：
(A)获取球镍晶体参数值；
(B)设定球镍晶体参数值范围；及
(C)判断球镍晶体参数值是否在设定的球镍晶体参数值范围内；当上述晶体参数值在相应的设定的球镍晶体参数值范围内时，判定该球镍的中值电压性能满足电池需要，其中，所述球镍晶体参数值为至少两个不同晶面的衍射峰的强度比值。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述两个不同晶面的衍射峰的强度比值为球镍101衍射晶面与球镍001衍射晶面的衍射峰的强度比值，设定的球镍101衍射晶面与球镍001衍射晶面的衍射峰的强度比值的参数值范围为50-80％。
3.根据权利要求2所述的方法，其中，设定的球镍101衍射晶面与球镍001衍射晶面的衍射峰的强度比值的参数值范围为60-70％。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其中，所述衍射峰的强度比值由X射线粉末衍射法测得。
5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述X射线粉末衍射法的测量条件为铜X-射线源，波长λ＝1.54056埃，Cu/Kα1，Cu靶的使用功率为40KV、20mA；使用石墨单色器；测角仪的扫描速率为4度/分，扫描范围2θ＝15°-65°，扫描方式为θ/2θ联动扫描；扫描步径0.02度/步；光路发散狭缝为1°、防散射狭缝为10毫米、可变狭缝为仪器自动调整、接收狭缝为0.3毫米。
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