[发明专利]强激光参量的测量方法与测量装置无效
| 申请号： | 200610012137.4 | 申请日： | 2006-06-07 |
| 公开（公告）号： | CN101086461A | 公开（公告）日： | 2007-12-12 |
| 发明（设计）人： | 于靖;邓玉强;李健;徐涛;熊利民 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01J1/02 | 分类号： | G01J1/02;G01J1/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 汤保平 |
| 地址： | 100013北京市北三*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 激光 参量 测量方法 测量 装置 | ||
1、一种强激光参量的测量装置，其特征在于，其结构包括：
在一入射光束上依序排列有第一光学反射片、第二光学反射片、第三光学反射片，该第一、二光学反射片为正交放置，以消除反射片对激光偏振态的影响，该第三光学反射片的摆放方向与第一光学反射片相同；
一第一光学探测器，该第一光学探测器位于第一光学反射片的一侧；
一第二光学探测器，该第二光学探测器位于第二光学反射片的一侧；
一第三光学探测器，该第三光学探测器位于第三光学反射片的一侧；
该第一、二、三光学探测器分别垂直接收该第一、二、三光学反射片反射的激光信号；
该第一、第三光学反射片具有相同的参数。
2、根据权利要求1所述的强激光参量的测量装置，其特征在于，其中该第一光学反射片的法线与入射光束方向成30°-60°放置。
3、根据权利要求1所述的强激光参量的测量装置，其特征在于，其中该第一、二、三光学反射片采用相同的材料及加工工艺制成，具有相同的光学特性。
4、一种强激光参量的测量方法，其是采用权利要求1所述的测量装置，其特征在于，包括如下步骤：
(1)沿入射光路注入强激光P；
(2)通过各光学反射片将强激光反射为弱光信号；
(3)读取各探测器上的参数；
(4)根据各探测器读出的参数计算出入射和出射强激光的参数。
5、根据权利要求4所述的强激光参量的测量方法，其特征在于，其中计算入射强激光的参数的公式为：
其中计算出射强激光的参数的公式为：
其中计算第一、三光学反射片的反射率公式为：
其中计算第二光学反射片的反射率公式为：
该公式中P1、P3、P5分别为各探测器读出的读数。
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