[发明专利]TCP处理装置

权利要求书

1.一种TCP处理装置，其通过采用与同时测试的多个TCP相对应的探测卡，将载带上的多个TCP的外部端子与探测卡的接触端子电接触，能同时对多个TCP进行测试，其特征在于：

在最初的测试中同时对多个TCP进行测试，针对在上述同时测试中被判断为不合格的判断不合格TCP，在将其移到与该判断不合格TCP所接触的接触端子不同的另一接触端子的位置之后进行再次测试。

2.根据权利要求1所述的TCP处理装置，其特征在于：对相对于载带的运送方向串行排列的多个TCP、或对相对于载带的运送方向并行排列的多个TCP、或对相对于载带的运送方向串行排列的TCP和相对运送方向并行排列的TCP，同时进行测试。

3.根据权利要求1所述的TCP处理装置，其特征在于：

在载带上设置有针对各TCP确定各TCP的位置的定位用的对准标记；

与同时进行测试的多个TCP的外部端子相对应的接触端子的定位是基于至少一个上述对准标记进行的。

4.根据权利要求1所述的TCP处理装置，其特征在于：

在对上述判断不合格TCP进行再次测试时，对与上述判断不合格TCP一起被按压的未检查的TCP同时进行测试。

5.根据权利要求1所述的TCP处理装置，其特征在于：

在对上述判断不合格TCP进行再次测试时，在测试的实施中除去与上述判断不合格TCP一起被按压的检查结束了的TCP。

6.根据权利要求1所述的TCP处理装置，其特征在于：针对在上述同时测试中被判断为不合格的判断不合格TCP，通过该判断不合格TCP所接触的接触端子，进行至少一次再测试。

7.根据权利要求6所述的TCP处理装置，其特征在于：改变上述判断不合格TCP的外部端子和与该外部端子接触的接触端子的按压条件，进行上述再测试。

8.根据权利要求7所述的TCP处理装置，其特征在于：测定上述判断不合格TCP的外部端子和与该外部端子接触的接触端子的接触电阻，在检测到超过可允许的接触电阻值的值时，改变上述按压条件，进行上述再测试。

9.根据权利要求1所述的TCP处理装置，其特征在于：

利用对TCP的外部端子和与该外部端子接触的接触端子的电接触状态进行检测的接触检查功能，沿X轴方向和/或Y轴方向使移动探测卡的探测卡台微动，寻找可移动区域，一直到检测到某个接触端子的接触不良为止；

确定上述可移动区域的中央位置；

基于上述被确定的中央位置进行TCP的定位。

10.根据权利要求1所述的TCP处理装置，其特征在于：

上述TCP处理装置包括同时吸附多个TCP并将它们按压于上述接触端子的吸附按压部件；

上述吸附按压部件对应于同时测试的TCP的排列而分割成至少两个；

上述已分割的吸附按压部件的相互间距能被调整，以能够与同时测试的TCP的间距相对应。

11.一种TCP处理装置，能同时对多个TCP进行测试，其特征在于：

在最初的测试中同时对多个TCP进行测试，针对在上述同时测试中被判断为不合格的判断不合格TCP，利用与该判断不合格TCP接触的探测卡的接触端子不同的另一接触端子进行再次测试。