[发明专利]取样电路与测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种对已施加的输入信号进行取样所用的取样电路和测试装置，特别是涉及一种使用突返(step recovery)二极管以产生一种取样脉波所用的取样电路。就借由文献的参照而确认可编入的指定国而言，借由参照下记的日本申请案中所记载的内容而编入本申请案中，以作为本申请案记载的一部份。

特愿2004-328262    申请日  西元2004年11月11日

背景技术

先前，作为一种对输入信号进行取样所用的电路时，一种使用突返二极管(SRD，Step Recovery Diode)的电路已为人所知(例如，请参阅专利文献1)。此电路借由SRD以产生一取样脉波，且借由二极管桥(bridge)来对输入信号进行取样。

图5是先前的取样电路200的构成的一例。取样电路200具备脉波产生器(pulser)210，电容器220，传送路径230，SRD240以及二极管桥250。

脉波产生器210对应于输入信号取样时应有的时序以产生脉波信号。SRD240接收脉波信号且依据此脉波信号以产生所需的取样脉波。然后，二极管桥250利用该取样脉波的时序来对该输入信号取样。

脉波产生器210所产生的脉波信号经由延迟量tpd的传送路径230而施加至SRD240。又，到达SRD240中的脉波信号在SRD240上反射，然后经由传送路径230而到达电容器220。已到达电容器220中的脉波信号在电容器220上反相且反射，经由传送路径230而施加至SRD240。即，脉波信号和此脉波信号只延迟2tpd后的脉波信号的反相信号都施加至SRD240上。借由这些脉波信号的合成，SRD240产生一种取样脉波，其具有由传送路径230所造成的与该延迟时间2tpd相对应的脉波宽度。

专利文件1：特开2004-179912号公报

发明内容

发明所要解决的问题

然而，一般而言，SRD使取样时脉输出时的时序是与SRD的温度有关。即，SRD240由接收脉波信号至输出该取样脉波为止的期间是与SRD240的温度有关，此乃因为：由接收脉波信号至输出该取样脉波为止的期间虽然是由SRD240的所谓蓄积时间ts(逆方向电流所流过的时间)来决定，但蓄积时间是与SRD240的温度有关。

此处，SRD240的温度会由于操作频率和周围环境等而变动。因此，在先前的取样电路中，SRD在输出该取样脉波时的时序会发生误差，要很精确地对输入信号进行取样是困难的。

因此，本发明的目的提供一种可解决上述问题的取样电路。此目的借由申请专利范围独立项所记载的特征的组合来达成。又，各附属项规定了本发明的更有利的具体特征。

解决问题所用的手段

为了解决上述问题，本发明的实施形式中提供一种取样电路，此种对所施加的输入信号进行取样所用的取样电路具备：脉波产生器，其对应于输入信号应取样时的时序以产生脉波信号；突返二极管，其对应于脉波信号以输出该取样信号；检出器，其对应于取样脉波以检出该输入信号的值；温度检出电路，其检出该突返二极管近旁的温度；以及温度补偿部，其依据温度检出电路所检出的温度以控制该突返二极管在输出该取样脉波时的时序(timing)。

温度补偿部亦可依据温度检出电路所检出的温度以控制该施加至突返二极管中的偏压。在温度检出电路所检出的温度变高时，则温度补偿部使施加至突返二极管中的偏压减小。在温度检出电路所检出的温度变低时，则温度补偿部使施加至突返二极管中的偏压增大。

温度补偿部亦可预先储存：温度表，其显示该突返二极管的温度与突返二极管所输出的取样脉波的相位的关系；以及偏压表，其显示出施加至突返二极管的偏压和该突返二极管所输出的取样脉波的相位的关系。

突返二极管的阴极端接地，取样电路更可具备：传送路径，其一端连接至脉波产生器，多端连接至突返二极管的阳极，此传送路径具有一定的延迟时间；以及电容器，其设在传送路径的一端和接地电位之间。

取样电路更可具备变压器，其使取样脉波传送至检出器。此检出器具有二极管桥，其以变压器的正相输出和反相输出作为取样脉波以检出该输入信号的值。