[发明专利]无线电基站设备及其回送测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种无线电基站设备及回送(loopback)测试方法， 更具体地，涉及一种执行回送测试的无线电基站设备及其回送测试方 法，在所述的回送测试中把要在无线电终端之间交换的信号回送到设 备内部。

背景技术

在例如WCDMA(宽带码分多址)的移动通信中使用的无线电基 站设备具有对要在无线电终端之间交换的信号测试发射/接收功能的 回送测试功能。例如，当要对从无线电基站设备发射到无线终端的下 行信号测试发射功能时，将从发射功能输出的下行信号回送到无线电 基站设备内，并由从无线电终端发射到无线电基站设备的上行信号的 接收功能来接收回送信号。然后，根据接收结果来检查发射功能的正 常性。相反，当要测试接收功能时，从发射下行信号的发射功能输出 上行信号，并且由接收功能接收通过回送到无线电基站设备内的下行 信号所获得的回送信号。然后，根据接收结果来检查发射功能的正常 性。

在这种回送测试中，有时，在无线电基站设备中回送的回送信号 会受到在接收功能中实际从无线电终端发送的上行信号的干扰。因此， 需要通过减小回送信号的电平，来减小上行信号和回送信号之间的干 扰。

通常，作为利用测试发射机和接收机(以下称作TTR)的无线电 基站设备测试方法，已经提出了一种用于减小这种测试信号干扰的技 术。在利用TTR的测试中，由无线电基站设备接收从TTR发射的预 定测试信号，并检查无线电基站设备的接收功能的正常性。相反，由 TTR接收从无线电基站设备返回的预定测试信号，并且检查无线电基 站设备的发射功能的正常性。

在利用这种TTR的测试中，从TTR发射的具有相对较高电平的 测试信号受到来自另一个无线电终端的上行信号的干扰，或者，从无 线电基站设备发射的具有相对较高电平的测试信号受到去往另一个无 线电终端的下行信号的干扰。因此，将用作上行信号或下行信号的比 特率的最低比特率或较低比特率用作从TTR或无线基站设备发射的 测试信号的比特率。由于具有较低比特率的测试信号的扩频增益增大， 因此能够改进发射质量，即每比特的信号接收能量Eb与噪声和解扩 干扰噪声的总和的功率谱密度No之比(Eb/No)。因此，当无线电基 站设备或TTR发射测试信号时，通过Eb/No的改进，能够减小测试信 号的发射功率。这使得可以减小另一个上行信号或下行信号的干扰。

在与基于WCDMA方案相同的移动无线电通信系统中，其中同时 呼叫连接多个无线电终端，能够连接的无线电终端的数目根据干扰量 而变化，随着干扰量增大，能够连接到无线电基站设备的终端数目减 少。因此，必须将TST信号的发射功率设置在不会对普通呼叫造成影 响的较低值。此外，随着普通呼叫数目的增加，由于呼叫之间的干扰， 恶化了TST信号的质量，导致错误。TST用于检查无线电基站设备的 正常性，因此，设计用于只有当设备异常时才出现错误系统是优选的。 即，必须避免由于这种普通呼叫干扰引起的信号恶化。

在上述传统技术中，由于TST发射功率被持续地确定，在用于回 送测试和普通呼叫的TST信号之间出现干扰。这影响了普通呼叫并减 小了TST的准确性。例如，当固定TST发射功率时，如下给出普通 呼叫和TST的SIR(信干比：希望信号和干扰噪声总和之间的比率)。 假定呼叫连接的数目是1和64。在这种情况下，如果TST信号功率 Ctst(1)＝Ctst(64)＝-138dBm，则由以下给出SIRtst(测试信号和干扰 噪声总和之间的比率)：

SIRtst＝Ctst(64)+10×log(SF)-10×log(10^No/10+10^C1(64)/10+ 10^C2(64)/10+...+10^C64(64))＝-12dB

由该等式表示的质量远远不能被接受，作为用于使信号通过的质 量。

假定呼叫连接计数＝1，C1(1)＝-138dBm以及Ctst(1)＝Ctst(64) ＝-120dBm。在这种情况下，以下给出SIR1和SIRtst：

SIR1＝C1(1)+10×log(SF)-10×log(10^No/10+10^Ctst(1)/10)＝3dB