[其他]二氧化碲单晶体的生长技术在审

专利信息
申请号: 101985000007803 申请日: 1985-10-09
公开(公告)号: CN1005159B 公开(公告)日: 1989-09-13
发明(设计)人: 蒲芝芬;葛增伟 申请(专利权)人: 中国科学院上海硅酸盐研究所
主分类号: 分类号:
代理公司: 中国科学院上海专利事务所 代理人: 潘振**;聂淑仪
地址: 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 氧化 单晶体 生长 技术
【权利要求书】:

1、一种二氧化碲(Teo2)单晶的坩埚下降生长方法,其特征在于:(1)原料预烧;

将光谱纯TtO2原料装入氧化铝瓷坩埚中,在坩埚下降炉内预处理,于700℃保温12~15小时,再快速冷却至常温;

(2)准备籽晶切向和制作铂金坩埚;

可选沿〔110〕、〔001〕、〔100〕、以及任一方向生长的籽晶;准备生长所需多种形状的铂金坩埚;

(3)晶体的生长;

A.装料:将所需切向的籽晶及预烧处理过的料装入所需形状的铂金坩埚内,密封;

B.装炉:上述铂金坩埚装入陶瓷保护管内,其间空隙用耐火材料粉填实;

C.升温:以每小时80-100℃速率升温至780-800℃;保温度1-4小时;

D.生长晶体:按每小时0.2-0.8mm速率下降铂坩埚;下降结束后再以15-20℃/小时,降至低于100℃,切断电源,自然冷却。

2、根据权利要求1的生长方法,其特征在于:所述的多种形状的坩埚,可以是方棒、椭圆形、菱形、板状,圆柱形。

3、根据权利要求1的生长方法,其特征在于:

最佳坩埚下降的速度为0.4-0.6mm小时。

4、根据权力要求1或2的生长方法,其特征在于所述铂金坩埚的直径比生长晶体的大2-3mm。

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