[其他]陶瓷及其同类材料的热变形测量系统在审
| 申请号: | 101985000003687 | 申请日: | 1985-05-17 |
| 公开(公告)号: | CN1004833B | 公开(公告)日: | 1989-07-19 |
| 发明(设计)人: | 京田洋;远藤容弘;藤原祯一;三村岁贞;西川喜八郎;西沢章一 | 申请(专利权)人: | 品川白炼瓦株式会社;松下电器产业株式会社 |
| 主分类号: | 分类号: | ||
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利代理部 | 代理人: | 栾本生;赵蓉民 |
| 地址: | 日本东京都千*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 陶瓷 及其 同类 材料 变形 测量 系统 | ||
1、一种测量陶瓷及其同类材料的热变形的系统,在该系统中,一对或两对照明器放置在样品电炉的一侧,一对或两对望远透镜放置在所述电炉的另一侧,从而读出样品两个端面的变形,其特征在于包括:
所说望远透镜的每一个都设置一个带有光二极管线性阵列的照像机,用于测量所述样品被加热时的尺寸变化和形状变化,还设置一组光学透镜,用于使被加热样品成像。
用于从所述照像机的相对侧照明所述样品的照明装置,该装置有一个电灯和多个聚焦透镜,所述灯泡的辐射特征曲线不同于被加热样品的辐射特征曲线。
用于从由所述被加热样品发射的光辐射中分离光形成图像的分离装置,该装置在所述样品和所述透镜之间有消除红外线的滤光器,以及
用于从具有预定间距的光二极管线性阵列给出的信号处理和计算视频信号的装置,所述光二极管线性阵列带有内插图像间距以增加测量精度的成像处理单元。
2、根据权利要求1的装置,进一步包括:由一对位于可调工作台上的变形测量照像机测量平行于测量线放置的样品的两个端面,以便能够在对一个照像机限定的测量范围内对样品进行测量,从而得到热膨胀系数。
3、根据权利要求1的装置,其中样品支架包括支承底座、上耐熔圆盘和下耐熔圆盘以及加载棒,并且测量蠕变的样品垂直保持在所述下耐熔盘和所述上耐熔盘之间。
4、根据权利要求1的装置,进一步包括用于测量热弹性系数的支承底座,该底座的上表面装有两个支承辊。
5、根据权利要求1的装置,进一步包括放置在所述照明装置的光束路径上,将所述光束反射给所述测量装置的反射装置,用于光学对准所述装置。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于品川白炼瓦株式会社;松下电器产业株式会社,未经品川白炼瓦株式会社;松下电器产业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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