[发明专利]光学拾取器

说明书

本发明涉及一种能够有效地校正由光盘倾斜而引起像差的光学拾取器，具有改进的散焦特性，其中两个光斑，即一个主光斑和一个具有光学像差的副光斑，聚焦在光盘上，然后被光检测器接收并被分析处理以用于校正。

通常，光学拾取器用于将信息记录在光盘上或再现光盘上的信息。随着光盘记录密度的增加，对发出短波长光的光源和具有较大数值孔径NA的物镜的需求也在增长。另一方面，使用光学拾取器将信息记录在光盘上或再现光盘上的信息时，如果光盘以一个相对于光轴的预定的角度安装，也就是说，如果光盘的记录表面相对于光轴倾斜，彗形像差就会由于光盘的倾斜而产生。对于采用发出短波长光的光源和具有较大NA的物镜的高密记录的光学拾取器来说，采用高密光盘时，球面像差就会由于光盘厚度和光波长的偏差在与低密光盘兼容的光学系统中产生。此外，由于物镜NA的增加，焦点深度减小以控制再现特性。因此，在调节光盘和物镜之间的工作距离时就需要精确控制由误差而产生的散焦。

彗形像差W₃₁满足下面的条件(1)。如果光盘的倾斜角度是相同的，与较低的NA相比，彗形像差W₃₁在较高的NA突然增大。

W₃₁∝NA³       …(1)

光盘记录密度由光源发出的光的波长λ和物镜的NA确定，它用公式(2)表示：光斑的直径 ∝ λ NA · · · ( 2 ) ]]>由于光盘厚度偏差ΔD而产生的球面像差W_40d满足下面的公式(3)： W 40 d = n 2 - 1 8 n 3 ( NA ) 4 Δd λ · · · ( 3 ) ]]>

这里n表示光盘衬底的折射率，d表示光盘衬底的厚度。

为了将光盘的记录密度增加到每张光盘15千兆字节(GB)或更多，根据公式(2)，就需要能够发出大约为410nm短波长光的光源和具有0.6或更大NA的物镜。然而，物镜的NA被增加以用于高密记录时，由于光盘厚度偏差而产生的并与NA的四次幂成正比的球面像差W_40d也大大地增加了。

参考图1，一种设计用来校正彗形像差和球面像差的常规像差校正装置，它包括一用于聚焦入射光的物镜3和一用于聚焦更多入射光以便在光盘1上形成一光斑的聚光透镜5。

光盘1按预定方向倾斜的情况下，聚光透镜5被驱动以平行于该方向而倾斜，因此就能校正彗形像差。

在具有上述结构的常规像差校正装置中，物镜3和聚光透镜5按预定的角度被驱动以进行跟踪和聚焦控制，或仅仅按预定的角度驱动聚光透镜，这样这种装置的致动器的结构就变得复杂了。

此外，在从轨道再现信息时，对15GB或更高的高密记录的需要就会由于相邻轨道的干扰而产生串音问题。