[发明专利]3轴磁传感器、全方位磁传感器及使用它们的方位测定方法有效

专利信息
申请号: 01102972.2 申请日: 2001-02-07
公开(公告)号: CN1349109A 公开(公告)日: 2002-05-15
发明(设计)人: 田村泰弘 申请(专利权)人: AP第一体系有限公司
主分类号: G01V3/40 分类号: G01V3/40;G01R33/02
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 黄依文
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 传感器 全方位 使用 它们 方位 测定 方法
【说明书】:

本发明涉及地磁测定技术。尤其是,本发明涉及能修正方位计算误差的地磁传感器及方位测定方法。

地磁传感器用于测定观测地点的方位。地磁传感器在观测地点设置在水平面上,检测水平面上的地磁场矢量的2轴分量。根据地磁传感器测出的2轴分量计算出磁场方位。地磁传感器也可用于汽车的导航系统,为修正磁化带来的影响,预先进行校准之后出厂。

另一方面,越来越多的手机及便携式终端用来显示地图信息。鉴于这种状况,本申请人首先设想将地磁传感器组装入手机及便携式终端等便携式设备,在探讨其实现的阶段终于认识到以下的问题。即,由于持有者携带便携式设备时的姿势及携带方式的不同,便携式设备可以朝向所有方向,或者便携式设备的方向是不定的、不断变化的。因此,装在便携式设备中的地磁传感器相对水平位置以各种倾斜角倾斜,该倾斜角是不断变动的。因此,在这样的使用环境下,必须实时排除磁化带来的影响、姿势及携带方式变化的影响,自动修正地磁场矢量的检测信号。

本申请人基于以上认识完成了本发明。其目的在于,提供一种小型且对磁化及倾斜能自动进行修正的地磁传感器及使用该地磁传感器的方位测定方法。    

本申请人在日本发明专利2000年第104689号申请中,提出了一种装有2轴磁传感器的便携式终端装置,并提出了一种能对地图上进行加工、使便携式终端装置所显示的地图方位对准便携式终端装置方位的位置信息显示系统。还有,本申请人为了提高系统的方便性,还提出了一种在磁传感器中装入倾斜传感器、能自动对倾斜进行修正的全方位磁传感器。

本发明的一种形态涉及3轴磁传感器。3轴磁传感器是将2轴磁传感器与磁检测元件构成一体的混合型IC装置。2轴磁传感器将基板形成为本体,检测与所述基板平行的平面所规定的磁场矢量的2轴分量。磁检测元件检测所述磁场矢量的与所述平面垂直方向的分量。由此,3轴磁传感器能对地磁的磁场矢量测出3轴分量。作为磁检测元件,可以使用根据霍尔效应测量磁场的霍尔元件等磁感应元件,或者利用随着强磁性体的磁化其电阻发生变化这一现象检测磁性的MR元件等磁阻效应元件。

2轴磁传感器也可以将检测磁场矢量的2轴分量用的线圈图形在整个层叠基片形成。2轴磁传感器也可以是磁通门式磁传感器,该磁通门式磁传感器以非晶态环状线圈为核心,在励磁用线圈基片的外面层叠检测与所述基片平行平面的X轴方向磁场分量的线圈基片及检测所述平面的Y轴方向磁场分量的线圈基片而构成。

将2轴磁传感器与磁检测元件安装成一体的方式,可以采用下述的方法,即形成2轴磁传感器的基片具有传递从磁检测元件输出的检测信号用的图形,在磁检测元件安装到基片上时,所述检测信号通过所述图形直接引入到基片上。

也可以还含有处理所述2轴磁传感器和所述磁检测元件的输出信号的信号处理部分,所述信号处理部分计算测出的磁性强度,对所述2轴磁传感器测出的磁场矢量的2轴分量进行修正。该信号处理部分可以与该3轴磁传感器在基片上形成一体,也可以位于该3轴磁传感器之外,接收输出信号并进行规定的信号处理。

本发明的另一形态涉及全方位磁传感器。全方位磁传感器是将形成在基片上、检测3维磁场矢量的3轴磁传感器与检测所述基片倾斜角的倾斜传感器构成为一体的混合型IC装置。所谓“形成在基片上”,包括几种情况,一种情况是例如3轴磁传感器的至少一部分构成要素以基片为本体形成,而3轴磁传感器的其它构成要素安装在基片外侧,另一种情况是3轴磁传感器的全部构成以基片为本体形成等。作为一个例子也可以是这样,检测与基片平行平面所规定的磁场矢量2轴分量的2轴磁传感器以基片为本体形成,而检测所述磁场矢量的与所述平面垂直方向分量的磁检测元件与形成在基片上的图形连接,以这样的方式安装。

倾斜传感器也可以检测与所述基片平行平面所规定的x轴方向倾斜角和y轴方向倾斜角。倾斜传感器也可以检测因3轴方向的倾斜导致的位移。这样的倾斜传感器也可以是检测2轴方向或3轴方向位移的加速度传感器或角速度传感器。

所述基片也可以具有传递从所述倾斜传感器输出的检测信号用的图形,当所述倾斜传感器已安装在所述基片上时,所述检测信号通过所述图形直接引入所述基片。

也可以这样形成,它还包括以从所述基片向外延伸的形式装在该基片上的薄膜基片,将所述倾斜传感器安装在所述薄膜基片之上,将所述薄膜基片向所述基片侧弯折,并将整体粘接固定。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于AP第一体系有限公司,未经AP第一体系有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/01102972.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top