[实用新型]键盘的防漏测试装置无效

专利信息
申请号: 00255301.5 申请日: 2000-09-28
公开(公告)号: CN2446509Y 公开(公告)日: 2001-09-05
发明(设计)人: 范成青 申请(专利权)人: 英群企业股份有限公司
主分类号: G01M3/02 分类号: G01M3/02
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 王宏祥
地址: 台湾省台北*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 键盘 防漏 测试 装置
【说明书】:

实用新型有关于一种键盘的防漏测试装置,尤其是涉及一种用于防水键盘漏水测试的防漏测试装置。

键盘为电脑设备或工业、船舶控制设施最主要的控制命令、资料输入的主要周边设备,而根据键盘使用操作场合的不同,对于键盘的功能要求亦合有所不同,如一般传统家用个人电脑所使用的键盘所着重的是在于外表美观及按毽功能的扩增,而不合严格要求其防水防漏功能,但在诸如潮湿的工厂厂房或长年行驶于海洋的船舶上的键盘使用场合,键盘防水防漏功能的加强确有其必要性。

在图8中则显示典型的防水键盘结构,该防水键盘A,于顶面的按键部A1与底部的电路基板A2间则连结设有一层防水胶层A3,藉以使侵入按键部A1的水气或液体不会渗漏至底部的电路基板A2中而影响防水键盘A整体的操作功能。而在该防水键盘A于制造组装的过程中,无论制程上如何谨慎小心,仍会因人为组装的疏忽或元件间配合度不佳而致有些许防漏功能不合格的不良品产生,而常见于键盘制造业界的检测筛选方式,因考虑避免产品外观受到污损破坏,并不会实际用水或液体来加以滴试检测,而是仅凭借人工肉眼观察或由专精此项技术的技术人员依其检测经验来加以判定筛选,使该防水键盘A的防水测漏过程需耗费大量的工时、人力及成本,并且,以人工检测的方式,仍不免因人员眼睛疲劳及误判而导致防水键盘的防水功能检测效果不彰,严重影响防水键盘产品的出厂品质。

因此,本实用新型的主要目的在于提供一种键盘的防漏测试装置,藉由抽取真空对防水键盘进行测漏,可达到不污损坏键盘外观及节省测试工时、人力及成本的效果。

本实用新型的又一目的在于提供一种键盘的防漏测试装置,防水键盘藉由密合的抽真空检测,可使防漏检测的精确度及检测品质提高,可完全避免肉眼检测疲劳及误判的缺失。

为实现上述的目的,本实用新型的键盘的防漏测试装置,其中,包含一测试机台,于其底部至少设有一测试槽,可供待测键盘紧密置放于其中,且测试槽底部经由管路与一真空泵连结,以使真空泵可测试槽内部作抽真空的测试动作,而该真空泵并再连结以一真空显示器,以显示该真空泵抽真空测试的结果;以及,至少一垂直驱动装置设于该测试机台的上方,其下方连结有一罩盖,以垂直带动罩盖向下覆盖于测试槽上方,并且,于该罩盖上至少设有一孔,以使测试槽内的键盘作抽真空测试出现泄漏时,可将外界空气不断地供给真空泵抽取,并藉由真空显示器来显示待测键盘的最终测漏状态,使该防水键盘的防漏测试状态可精确地进行测试及显示。

本实用新型的详细构造及实际操作,将藉由以下详细的说明使之明确,同时,列举一较佳实施例,并辅以相关附图使其技术内容及结构空间形态得以更加清楚明了,附图中:

图1是本实用新型的键盘的防漏测试装置的立体外观结构图;

图2是本实用新型的键盘的防漏测试装置中的罩盖的立体结构图;

图3是表示本实用新型中真空泵及真空显示器连结于测试槽底部的结构的前视图;

图4是表示本实用新型中垂直驱动装置带动罩盖作上、下垂直运动的侧视图;

图5是表示待测键盘置于测试槽中进行抽真空测试的状态的前视图;

图6是图5中标示A’部分的局部放大视图;

图7是表示测试槽中的待测键盘防漏功能测试不合格的状态的侧视图;

图8是传统的防水键盘的立体外观结构图。

首先,请参阅图1-图4所示,本实用新型键盘的防漏测试装置以100编号来标示,其中,该防漏测试装置100包含一测试机台10,其形状不限,在本实用新型中以“C”形状者为例,于该测试机台10底部的底板11上至少设有一测试槽12,其形状亦不限,可配合任何待测试键盘的形状来构成,于该测试槽12中,则设有若干个凸柱121,以便放置待测键盘C时(参阅图5所示),供待测键盘C作支撑定位之用,而该测试槽12的底部则向外以一管路B连结有一真空泵20,可使真空泵20对测试槽12进行抽真空的动作,而该真空泵20另以一管路B’连接一真空显示器30,以显示该真空泵20抽真空的结果,且真空显示器30的型态不限,可为数位式或机械式。

上述的测试机台10顶部的顶板13上,则至少结合有一垂直驱动装置40,其型态不限,可为如气压缸或电磁铁等具上、下垂直伸缩运动控制元件所构成,而该垂直驱动装置40则具有一动作杆41,以向下连结有一罩盖50,该罩盖50于顶部至少设有一孔51,以供罩盖50作为通气之用,而该罩盖50则藉由垂直驱动装置40的向下垂直带动(如图4所示)而完全将测试槽12盖覆,使测试槽12在待测键盘C放置的情况下,仅由该罩盖50上的孔51与外界通气。

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