[发明专利]检测再现信号的方法和电路

说明书

本发明涉及再现信号的检测，并且特别涉及在光记录/再现系统中只检测具有最小失真或劣变的光检测器件的某些输出的方法，以及相应电路。

在如光盘(CD)和数字通用盘那样的光记录介质的记录/再现系统中，数据以在衬底或记录膜层的变体上的凹坑的形式记录在盘上。通过用激光照射该盘，并且检测反射光，来检测盘上的数据。在记录/再现系统中，由于数据凹坑和记录范围的几何尺寸(例如，宽度，长度，深度和角度)引起光检测器件的输出之间的时间延迟，并且还由于切线方向上数据之间的干扰引起的时间延迟，引起信号劣化。当光检测器件的输出之间引起时间延迟时，再现信号失真。当再现信号的幅值未被合适地检测到时，系统的性能下降。

光盘正在被开发用于高密度记录和高速度再现，以记录和/或再现高清晰度(HD)图像。随着用于高密度和高速度记录/再现的记录/再现系统的开发，符号间干扰增加，导致相邻数据间时间延迟和信号失真，引起信号的劣变。相应地，再现信号的性能下降，在系统实现期间，需要相当大的努力和额外的花费。

传统再现信号检测的原理示于图1中。首先，为了检测记录在盘100上的信息，拾取器单元(P/U)102向盘100辐射从光源(例如，激光二极管)发射的光束，并且通常由光电检测器(PD)构成的多区段光检测器件104(也叫做检测传感器)接收由盘100反射的光信号，并且将该光信号分成多个信号。

第一、第二、第三和第四电流/电压(I/V)转换器106、108、110和112转换光检测器件104输出的电流信号A、B、C和D成为电压信号。运算单元114将第一、第二、第三和第四I/V转换器106、108、110和112输出的电压信号相加，并且将该和作为射频再现信号RF SUM输出。

在现有技术中，采用通过简单相加I/V转换器106、108、110和112的输出来检测再现信号的方法，使得由于记录在盘上的数据情况、串扰、从相近的凹坑和从记录介质上相邻光道反射/衍射的光信号之间的干扰、和其它系统问题(例如散焦、失跟踪和倾斜)，导致再现信号劣变。因此，再现信号的质量和系统的性能下降。

如上所述，随着使用光记录介质的记录/再现系统被设计用于高密度和高速度记录/再现，由于记录在盘上的数据情况、从相近的凹坑和从记录介质上相邻光道反射/衍射的光信号之间的干扰、和其它系统问题(例如散焦、失跟踪和倾斜)，信号的劣变变得严重，这导致系统实现期间的很多问题。

为了解决上述问题，本发明的第一目的是提供一种检测再现信号的方法，通过该方法，根据数据情况、从相近的凹坑和从记录介质上相邻光道反射/衍射的光信号之间的干扰、和/或系统状态，只再现光检测器件的最小劣变的某些输出。

本发明的第二目的是提供一种在克服由数据情况、串扰、从相近的凹坑和从记录介质上相邻光道反射/衍射的光信号之间的干扰引起问题的同时，检测最佳再现信号的方法。

本发明的第三目的是提供一种在克服散焦的同时，检测最佳再现信号的方法。

本发明的第四目的是提供一种在克服失跟踪的同时，检测最佳再现信号的方法。

本发明的第五目的是提供一种在克服径向倾斜的同时，检测最佳再现信号的方法。

本发明的第六目的是提供一种在克服切线倾斜的同时，检测最佳再现信号的方法。

本发明的第七目的是提供一种通过自适应补偿由数据情况引起的信号干扰、串扰、从相近的凹坑和从记录介质上相邻光道反射/衍射的光信号之间的干扰、散焦、失跟踪、径向倾斜和/或切向倾斜，检测最佳再现信号的方法。

本发明的第八目的是提供一种检测再现信号的电路，其中，根据数据情况、从相近的凹坑和从记录介质上相邻光道反射/衍射的光信号之间的干扰、和/或系统状态，只再现光检测器件的最小劣变的某些输出。

为了实现本发明的上述目的，提供了一种使用光检测器件检测再现信号的方法，该光检测器件用于接收从光记录介质反射的光信号，并且将接收的信号划分成对应于光检测器件的区段的多个信号，该光检测器件区段以矩阵排列，该矩阵具有光记录介质的切线方向上的行和径向方向上的列，该方法包括步骤：(a)根据记录在光记录介质上的数据情况、从相近的凹坑和从记录介质上相邻光道反射/衍射的光信号之间的干扰、和/或各种系统状态，从光检测器件的输出信号中选择比其它信号有更小劣变的某些信号；和(b)基于检测结果，通过补偿由于数据情况、从相近的凹坑和从记录介质上相邻光道反射/衍射的光信号之间的干扰、和/或各种系统状态引起的信号干扰量，从选择的信号中获得再现信号。