[发明专利]检测再现信号的方法和电路

权利要求书

1、一种使用光检测器件检测再现信号的方法，该光检测器件用于接收从光记录介质反射的光信号，并且将接收的信号划分成对应于光检测器件的区段的多个信号，该光检测器件区段以矩阵排列，该矩阵具有光记录介质的切线方向上的行和径向方向上的列，该方法包括步骤：

(a)根据记录在光记录介质上的数据情况、从相近的凹坑和从记录介质上相邻光道反射/衍射的光信号之间的干扰、和/或各种系统状态，从光检测器件的输出信号中选择比其它信号有更小劣变的某些信号；和

(b)基于检测结果，通过补偿由于数据情况、从相近的凹坑和从记录介质上相邻光道反射/衍射的光信号之间的干扰、和/或各种系统状态引起的信号干扰量，从选择信号中获得再现信号。

2、如权利要求1所述的方法，其中在步骤(a)中，根据由于数据情况或从相近的凹坑和从记录介质上相邻光道反射/衍射的光信号之间的干扰引起的信号干扰，选择与一些信号的组合对应的光检测器件输出中的一个，所述一些信号与在径向排列的光电检测装置的区段相对应。

3、如权利要求1所述的方法，其中在步骤(a)中，根据由于散焦引起的信号干扰，选择与一些信号的组合对应的光检测器件输出中的一个，所述一些信号与对角排列的光电检测装置的区段相对应。

4、如权利要求1所述的方法，其中在步骤(a)中，根据由于失跟踪引起的信号干扰，选择与一些信号的组合对应的光检测器件输出中的一个，所述一些信号与在光道方向排列的光电检测装置的区段相对应。

5、如权利要求1所述的方法，其中在步骤(a)中，根据由于径向倾斜引起的信号干扰，选择与一些信号的组合对应的光检测器件输出中的一个，所述一些信号与在光道方向排列的光电检测装置的区段相对应。

6、如权利要求1所述的方法，其中在步骤(a)中，根据由于切线倾斜引起的信号干扰，选择与一些信号的组合对应的光检测器件输出中的一个，所述一些信号与在径向排列的光电检测装置的区段相对应。

7、如权利要求1所述的方法，其中在步骤(b)中，按照由于数据情况或从相近的凹坑和从记录介质上相邻光道反射/衍射的光信号之间的干扰引起的信号干扰量，自适应均衡光检测器件的被选择的输出。

8、如权利要求1所述的方法，其中所述再现信号用来增加系统的散焦裕度。

9、如权利要求1所述的方法，其中所述再现信号用来增加系统的失跟踪裕度。

10、如权利要求1所述的方法，其中所述再现信号用来增加系统的径向倾斜裕度。

11、如权利要求1所述的方法，其中所述再现信号用来增加系统的切线倾斜裕度。

12、一种使用光检测器件检测再现信号的方法，该光检测器件包括光电检测装置，用于接收从光记录介质反射的光信号，并且将所接收的信号划分成多个信号，该方法包括下列步骤：

(a)检测与一些信号的组合对应的光检测器件的输出，所述一些信号与在光道方向排列的光电检测装置的区段相对应；检测与一些信号的组合对应的输出，所述一些信号与在径向排列的光电检测装置的区段相对应；和/或检测与一些信号的组合对应的输出，所述一些信号与对角排列的光电检测装置的区段相对应；和

(b)检测通过再现在步骤(a)中检测的输出获得的输出信号中的一个好的信号作为再现信号。

13、如权利要求12所述的方法，还包括步骤(c)，通过检测记录在光记录介质上的数据情况、从相近的凹坑和从记录介质上相邻光道反射/衍射的光信号之间的干扰、和/或各种系统状态，控制一个好的信号将被检测为步骤(b)中的再现信号。