专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种将共聚焦图像转换为受激辐射损耗图像的方法-CN202210733664.3在审
  • 戴任翔;周凌霄;倪燕翔;杜路平;袁小聪 - 深圳大学
  • 2022-06-23 - 2022-09-23 - G06T3/20
  • 本发明提供一种将共聚焦图像转换为受激辐射损耗图像的方法,包括:将STED图像进行直方图归一化处理,将成对的Confocal‑STED数据集进行裁剪,构建网络训练集;使用网络训练集训练生成器网络和判别器网络;将Confocal图像进行裁剪并输入至生成器网路,生成器网络对图像进行转码生成STED图像;将生成器网络生成的STED图像分为若干个小块,判别器网络分别对每个小块的进行筛选校准,并利用损失函数对STED图像进行修复;输出最终STED图像。本发明的有益效果:解决了STED成像技术光路搭建难度大、成本高、稳定度低以及容易光毒害生物体的问题。
  • 一种聚焦图像转换辐射损耗方法
  • [发明专利]受激发射损耗显微镜装置-CN201580017560.0有效
  • 泷口优 - 浜松光子学株式会社
  • 2015-03-19 - 2019-03-12 - G02B21/06
  • STED显微镜装置(1A)包括输出STED光(LS1)的STED光源(11)、输出激励光(LE1)的激励光源(12)、呈现用于通过相位调制将STED光(LS1)成形为圆环状的相位图案的相位调制型的SLM(13)、用于向观察对象区域照射激励光(LE2)和相位调制后的STED光(LS2)的光学系统控制部(17a)为了控制相位调制后的STED光(LS2)的圆环的内径而设定相位图案。由此,实现了在分辨率和所需时间方面能够提高使用者的便利性的STED显微镜装置。
  • 受激发射损耗显微镜装置
  • [发明专利]一种基于受激辐射损耗技术的快速扫描成像系统-CN202310156477.8在审
  • 冯晓强;杨逸帆;李志伟;张琛;赵伟;王凯歌;白晋涛 - 西北大学
  • 2023-02-23 - 2023-06-02 - G01N21/64
  • 本发明公开了一种基于受激辐射损耗技术的快速扫描成像系统,包括沿光路传输方向设置的STED双光束模块、扫描模块及信号采集模块;所述的扫描模块设置振镜和压电纳米移动平台,振镜沿XY平面二维移动,检测样品放在压电纳米移动平台上;来自STED双光束模块的STED光经振镜后光路发生偏转,STED光通过振镜带有的F‑θ镜射向承载样品的压电纳米移动平台上,STED光对检测样品进行激发;信号采集模块收集不同的目标波段信号,后续可对所述被收集信号进行后续图像处理本发明光路成本低,光路精简紧凑,可实现四通道的不同信号收集,精简了电子控制系统,自主设计振镜控制软硬件,将振镜与压电纳米移动平台相结合,提高了STED成像系统的逐点扫描速度和精度。
  • 一种基于辐射损耗技术快速扫描成像系统

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