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- [发明专利]驱动信号检测系统及方法-CN202011630499.6在审
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胡中武;王一超
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上能电气股份有限公司
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2020-12-31
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2022-07-01
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G01R31/28
- 本发明适用于测试技术领域,提供了一种驱动信号检测系统及方法,用于对控制板的驱动电路中的各路驱动信号进行检测,系统包括控制板、上位机、及工装板;控制板上设有通讯口、驱动口和IO口,工装板上设有逻辑检测电路;逻辑检测电路的各路输入端通过驱动口分别与驱动电路的各路驱动连接,逻辑检测电路的输出端与IO口连接,用于对所输入的各路驱动的电平信号进行逻辑运算后输出检测信号至IO口;控制板根据上位机下发的测试命令,通过驱动口发出控制信号至工装板中,并根据IO口采集的检测信号确定各路驱动信号的功能是否正常;上位机通过通讯口监测控制板的测试数据。
- 驱动信号检测系统方法
- [实用新型]一种双核微处理器的FPGA验证电路-CN202221778581.8有效
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罗祥辉;李希超;曾启明
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罗祥辉
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2022-07-11
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2023-02-28
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G05B19/042
- 本实用新型适用于通信电子技术改进领域,提供了一种双核微处理器的FPGA验证电路,所述双核微处理器的FPGA验证电路包括电源电路、复位电路、闪存电路、IO口扩展电路及JTAG下载端口电路,所述电源电路分别电性连接所述复位电路、闪存电路、IO口扩展电路及JTAG下载端口电路,所述复位电路的输出端连接双核微处理器的输入端,所述闪存电路、IO口扩展电路及JTAG下载端口电路分别通讯连接所述双核微处理器,所述电源电路电性连接所述双核微处理器该电路结构简单、使用方便,以双核微控制器为核心的FPGA验证开发板具有既满足FPGA芯片筛选验证的要求,又满足FPGA应用开发设计的功能。
- 一种微处理器fpga验证电路
- [实用新型]一种晶振IO口的ESD漏电保护结构-CN202220838996.3有效
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刘桂云;王媛
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辉芒微电子(深圳)股份有限公司
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2022-04-12
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2022-08-23
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H03B5/06
- 本实用新型公开了一种晶振IO口的ESD漏电保护结构,所述晶振IO口包括用于连接晶振对地一端的第一IO口(IO_1),所述ESD漏电保护结构包括:第一ESD单元(11),连接在所述第一IO口(IO_1)和电源之间,用于为所述第一IO口(IO_1)与电源之间的静电释放提供放电路径;漏电流转移单元(15),与第一ESD单元(11)连接,用于为第一ESD单元(11)产生的漏电流单独提供泄放路径以阻止所述漏电流流入所述第一IO口(IO_1);漏电保护启用单元(16),与漏电流转移单元(15)连接,用于在第一ESD单元(11)产生漏电流时启用所述漏电流转移单元(15);本实用新型解决了既有的高温高压情况下因为该ESD单元漏电而导致晶振直流工作点的偏移甚至导致无法正常起振的缺陷
- 一种ioesd漏电保护结构
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