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[实用新型]一种微波PCB电路测试工装结构-CN201921425724.5有效
发明人：王若尘 -专利权人：无锡华测电子系统有限公司
申请日： 2019-08-29 - 公布日： 2020-06-05 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种微波PCB电路测试工装结构，涉及微波芯片测试领域，包括：工装上夹具、工装下夹具、高精度连接器SMP；高精度连接器SMP通过螺钉锁在工装上夹具上，工装下夹具通过螺钉与工装上夹具配合将待测满足了微波芯片性能验证及微波芯片组成的PCB应用电路的测试要求，插损小，使用方便，节约成本，底座稳，易散热。
一种微波 pcb 电路测试工装结构

[实用新型]一种芯片测试装置-CN200720169285.7无效
发明人：刘泗宏 -专利权人：翔宏兴业有限公司
申请日： 2007-07-10 - 公布日： 2008-08-06 - 主分类号： G01R1/02 文献下载
摘要：本实用新型为一种芯片测试装置，是主要由抵压夹具与测试底座所组成，其中所述的抵压夹具则主要由盖体与夹具座体所构成，而所述的测试底座则由固定基板与底座本体所构成；另，其夹具座体则可收容有可供芯片置放的还换框，而其固定基板可与测试座体结合后并进一步设置在抵压夹具相对的下方，另，所述的测试座体则设有可容置探针本体的容置孔，而通过固定基板与底座本体的结合则可将探针收容至容置孔内并使探针顶部与底部的探针头分别外露在固定基板与底座本体；是以，通过上述组件的组立将可对待测芯片进行测试，而通过可供置换的还换框与测试底座，即可让不同尺寸、类型或脚位的芯片进行测试的测试装置。
一种芯片测试装置

[实用新型]一种用于半导体芯片射频测试的夹具-CN201721026542.1有效
发明人：杨更华 -专利权人：天津朴海永科技有限公司
申请日： 2017-08-16 - 公布日： 2018-03-13 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于半导体芯片射频测试的夹具，包括工作台，所述工作台的顶端安装有输入端头，所述输入端头的下方安装有第一夹板调整器,所述第一夹板调整器的下方安装有第一夹板；在测试夹具的两个端头均使用导电胶或以合适的金属材料进行焊接，使得端头与工作台的连接更加稳固，较好的解决了目前我国市场上现有技术的半导体芯片射频测试夹具上的端头在使用过程中容易磨损和松动，一段时间后夹具上的端头可能会脱落，从而影响测试夹具的正常使用的问题，在芯片载体的四周设置了五个可以移动的夹板，这可以根据不同半导体芯片不同的大小而对芯片载体的大小和尺寸进行实时的调整，增强了测试夹具的适应性。
一种用于半导体芯片射频测试夹具

[实用新型]一种芯片测试夹具及测试系统-CN201520110597.5有效
发明人：陈正;刘希达 -专利权人：上海唯捷创芯电子技术有限公司
申请日： 2015-02-15 - 公布日： 2016-01-20 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种芯片测试夹具及测试系统。该测试夹具包括底座和枢接于底座的顶盖；底座上设有芯片定位槽以及金属弹簧探针；芯片定位槽位于底座的中部，且与芯片的封装尺寸相匹配；金属弹簧探针包括管脚探针和支撑探针；管脚探针根据芯片管脚的分布设置于芯片定位槽的四周，且针头固定于芯片定位槽外的底座中，针头延伸至芯片定位槽中；支撑探针用于实现芯片的支撑以及参考地的电性连接。本实用新型所提供的测试夹具可以有效减少因焊接带来的新品导入时间，缩短产品的可靠性认证的周期和上市时间；同时避免了芯片损伤风险，便于反馈可靠的评估结果。
一种芯片测试夹具系统

[实用新型]一种用于便携式电子产品PCBA板的测试系统-CN201620389391.5有效
发明人：刘宏;朱文华;邓海波;韦志;罗魁;邓榕;戴韵 -专利权人：深圳市恒昌盛科技有限公司
申请日： 2016-04-29 - 公布日： 2016-10-12 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种用于便携式电子产品PCBA板的测试系统，其包括稳压测试电源和测试夹具，所述稳压测试电源和测试夹具之间设有防浪涌模块，所述防浪涌模块包括LDO稳压芯片，所述LDO稳压芯片包括IN引脚、OUT引脚、ADJ引脚和GND引脚，所述IN引脚与稳压测试电源的输出正极连接，所述GND引脚与稳压测试电源的输出负极连接；所述测试夹具包括夹具正极输入端和夹具负极输入端，所述OUT引脚与夹具正极输入端连接，所述夹具正极输入端和夹具负极输入端之间连接有4700UF的电容。采用本实用新型的技术方案，在PCBA测试过程中监控电压电流的稳定输出，有效减少供电电源的瞬间电涌对PCBA造成物料损坏。
一种用于便携式电子产品 pcba 测试系统

[实用新型]一种压电型力敏芯片测试夹具-CN202020740256.7有效
发明人：张汪根;吕文硕;刘大俊 -专利权人：上海肇擎传感技术有限公司
申请日： 2020-04-30 - 公布日： 2021-03-16 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种压电型力敏芯片测试夹具，包括夹具收集盒及与夹具收集盒相匹配的夹具基座，所述夹具收集盒为长方料盒，其中一个侧面呈贯通设置，所述夹具基座的上表面开设有载片槽，所述载片槽的底部设置有隔离区，所述载片槽内配合连接有压电型力敏单元，所述载片槽的顶部边缘处设置有多个紧固件，通过设置有夹具收集盒及夹具基座，夹具收集盒用于存储测试夹具，压电型力敏芯片测试后通过夹具基座放置在夹具收集盒中，使得很装置同时具备测试和存储功能，降低测试与存储拆装次数导致的碎片和裂片，隔离区为载片区中的镂空部分，隔离区尺寸与压电型力敏芯片的力敏结构相匹配，使得装置能有效隔离力敏结构的振动干扰大大提高装置的实用性。
一种压电型力敏芯片测试夹具

[实用新型]一种针对CCGA封装芯片测试夹具-CN202023009775.5有效
发明人：李明远;李鑫;姜扬;马明朗;吕学明;刘利新;张小孟 -专利权人：北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所
申请日： 2020-12-14 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：一种针对CCGA封装芯片测试夹具，包括外围三圈焊柱根部的环状让位、内部焊柱根部的沉孔状让位，通过以上两种形式的让位，解决了测试夹具对CCGA封装芯片焊柱根部的损伤问题，避免测试座上表面对焊柱根部溢锡处的机械损伤，影响外观，并且不会破坏改善前夹具中探针与芯片、电路板之间的稳定接触。
一种针对 ccga 封装芯片测试夹具

[发明专利]激光芯片测试装置及激光芯片测试方法-CN202310452597.2在审
发明人：李伟;肖岩;赖志林 -专利权人：深圳市柠檬光子科技有限公司
申请日： 2023-04-24 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本申请涉及一种激光芯片测试装置及激光芯片测试方法。激光芯片测试装置用于测试芯片模组中的激光芯片，芯片模组包括多个所述激光芯片，多个激光芯片呈阵列排布，激光芯片测试装置包括夹具、收光模组以及移动模组。夹具用于固定所述芯片模组。收光模组包括主体以及设于主体上的光阑结构和出光接口，主体内设有连通光阑结构和出光接口的传输通道，光阑结构设有光阑孔，光阑结构用于通过光阑孔接收激光芯片的出射光，光阑孔的最大径向尺寸小于或等于激光芯片的发光面的尺寸移动模组能够驱使收光模组在平行于激光芯片的发光面的平面上移动。上述激光芯片测试装置，能够降低其他激光芯片的出射光对测试结果的影响，提升测试准确性。
激光芯片测试装置方法

[发明专利]一种利用矢量网络分析仪进行在片测试的方法-CN201711111488.5有效
发明人：郭永瑞;李树彪;庄志远;刘丹;李明太;赵立军 -专利权人：中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请日： 2017-11-13 - 公布日： 2019-09-24 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种利用矢量网络分析仪进行在片测试的方法，其包括如下步骤：s1.首先在矢量网络分析仪测试电缆与夹具相连的端口进行全双端口SOLT或TRL校准；s2.矢量网络分析仪测试电缆与两个夹具相连，在夹具端进行频时域相结合的校准；s3.在夹具端连接被测件进行测量。本发明巧妙地在矢量网路分析仪端面引入两个夹具，将繁琐的芯片测试进行了转化，操作简单便捷。此外，本发明基于矢量网络分析仪进行芯片测试，通过完整的分析、建模，充分考虑了芯片测试中引入的误差，并通过算法予以去除，因此测试精度高。
一种利用矢量网络分析进行测试方法

[实用新型]一种改进的芯片测试夹具-CN201821021642.X有效
发明人：卞玉婷;沈沙;王杨;韩益锋 -专利权人：常州鹏安电子科技有限公司
申请日： 2018-06-29 - 公布日： 2019-02-15 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种改进的芯片测试夹具，包括测试底座、测试夹板和对接板，所述对接板通过定位槽和卡位板与测试底座端面的定位柱和卡位槽啮合安装，所述测试夹板通过转轴与测试底座的端面固定安装，所述测试夹板与转轴相对的端部固定安装有复位弹簧该改进的芯片测试夹具，具备便于对芯片夹持固定在测试插座上，提高对芯片夹持牢固性，并便于根据对不同芯片批量测试更换对接板，提高对芯片测试调试效率的优点，解决了现有对芯片测试时夹持牢固性不高，以及对芯片批量调试更换对接板复杂，影响对芯片测试效率的问题。
对接板芯片测试夹具夹板测试底座复位弹簧芯片测试固定槽牢固性芯片夹测试转轴芯片啮合本实用新型改进测试插座调试效率批量测试定位槽定位柱卡位板卡位槽复位夹持调试

[发明专利]一种W波段多端口平面电路测试夹具-CN201410287392.4在审
发明人：丁金义;吴亮;孙朋飞;孙晓玮;孙芸;佟瑞;钱蓉;汪书娜 -专利权人：中国科学院上海微系统与信息技术研究所
申请日： 2014-06-24 - 公布日： 2014-09-10 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明提供一种W波段多端口平面电路测试夹具，该测试夹具至少包括：具有腔体的夹具本体，所述腔体中放置有微带传输线；在所述夹具本体上设置有与所述微带传输线方向一致的第一端口和第二端口；在与所述第一端口、第二端口所在的中心线方向垂直的夹具本体上设置有至少一个第三端口本发明的测试夹具上设置有多个输入输出端口，夹具腔体内的微带部分可连接需要测试的电路或芯片，易于进行多种不同电路和芯片的测试。本发明可独立通用，易于加工，体积小，损耗小，装卸方便，可轻松的实现高频电路或芯片的测试工作。
一种波段多端平面电路测试夹具

[发明专利]一种倒装焊芯片热阻测试夹具-CN202011608779.7在审
发明人：黄卫;张振越;朱思雄;王剑峰;李祝安 -专利权人：中国电子科技集团公司第五十八研究所
申请日： 2020-12-29 - 公布日： 2021-05-11 - 主分类号： G01N25/20 文献下载
摘要：本发明公开一种倒装焊芯片热阻测试夹具，属于热阻测试技术领域。所述倒装焊芯片热阻测试夹具包括底座、两根支撑杆柱、金属铜块、支撑板框架和导电定位机构；所述金属铜块固定连接与于所述底座上，两根所述支撑杆柱垂直固定于所述金属铜块两侧的所述底座上；所述支撑板框架穿过并沿两根所述支撑杆柱来回滑动该倒装焊芯片热阻测试夹具替代传统的凸点焊接测试，提高芯片的热阻测试准确率和效率的同时，解决了芯片相邻凸点之间焊接接触易发生短路问题。
一种倒装芯片测试夹具

[实用新型]一种用于芯片频率响应特性的测试装置-CN201720794755.2有效
发明人：钟行;王恒铭;李晶;胡艳;岳爱文 -专利权人：武汉电信器件有限公司
申请日： 2017-07-01 - 公布日： 2018-01-30 - 主分类号： G01R23/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于芯片频率响应特性的测试装置，包括测试基座和光纤夹具，其中所述测试基座内部设置有测温元件，在所述测温元件周围对称设置加热元件或制冷元件，与所述测温元件对应的基座上表面位置用于放置被测芯片，所述测温元件接近所述用于放置被测芯片的基座上表面位置；所述光纤夹具设置有用于夹持光纤的夹持部；当进行频率响应特性测量时，所述光纤夹具夹持的光纤与所述测试基座表面放置的被测芯片进行光耦合。本实用新型提供的测试装置能够满足对各种芯片类型和不同测试环境的测试需求，且耦合效率高、可靠性好、使用简单并且投入成本也较低。
一种用于芯片频率响应特性测试装置

[实用新型]一种芯片测试平台的保护装置-CN202021794339.0有效
发明人：杨良春;赵永峰 -专利权人：安徽信诺达微电子有限公司
申请日： 2020-08-25 - 公布日： 2021-06-18 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型属于芯片测试技术领域，尤其为一种芯片测试平台的保护装置，包括测试平台本体、连接板和保护盖，所述测试平台本体顶部固定连接有两个对称分布的滑轨，所述滑轨上开设有滑槽，所述测试平台本体顶部固定连接有芯片夹具，所述连接板位于所述测试平台本体一端顶部，所述连接板一侧底部固定连接有强力磁铁；首先将连接板与测试平台本体进行连接，然后再把保护盖与测试平台上的滑轨进行连接，推动保护盖在滑轨上滑动，使强力磁铁吸附住连接金属块，从而对保护盖进行固定，这样在测试平台本体闲置的时候，通过保护盖会对测试平台本体上的芯片夹具起到一个保护的作用，避免外部的灰尘落到芯片夹具上影响其灵敏度。
一种芯片测试平台保护装置

[实用新型]大功率二极管芯片测试老化用夹具-CN202220994850.8有效
发明人：袁纪文;杜运波 -专利权人：扬州港信光电科技有限公司
申请日： 2022-04-27 - 公布日： 2022-09-30 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型提供大功率二极管芯片测试老化用夹具，涉及测试老化用夹具技术领域。该大功率二极管芯片测试老化用夹具，包括固定底座，所述固定底座顶部固定连接有散热板和固定板，所述固定底座顶部设有移动板，所述移动板和固定板相对一侧均设有夹持框，该大功率二极管芯片测试老化用夹具，当移动板移动通过弹性组件推动其中一个夹持框靠近芯片，使两个夹持框上的传动组件对芯片进行快速夹持，同时移动板与其中一个夹持框之间设置的弹性组件，使伸缩杆对夹持框进行推动，使夹持时弹性的效果，避免在夹持框夹持过程中过紧导致芯片出现损坏的情况，同时也可以针对不同的尺寸的芯片进行一个快速夹持的作用
大功率二极管芯片测试化用夹具