专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种基于热辐射源的智能空调系统-CN201610645057.6有效
  • 张鸿恺;李杨 - 南京飞洋汽车电子有限责任公司
  • 2016-08-08 - 2019-11-15 - F24F11/79
  • 本发明提供了一种基于热辐射源的智能空调系统,所述空调系统包括多个分散设置在同一空间区域的多个冷气出风口,所述成像中温度显示较高的辐射区域,控制所述辐射区域对应的冷气出风口的调整至所述成像中温度最高的位置,实时获取成像;每间隔一设定时间值,重新获取成像,控制控制所述辐射区域对应的冷气出风口的调整至所述成像中温度最高的位置。本发明提供了基于热辐射源的智能空调系统通过获取空调制冷空间的红外成像,并将冷气出风口对准温度最高的位置,保证了整体环境的温度均匀性。
  • 一种基于辐射源智能空调系统
  • [发明专利]基于红外图像处理的电力设备异常发热检测方法和系统-CN202310157236.5在审
  • 张那明;郑新灏;徐新宇;宁舒雅 - 西安交通大学
  • 2023-02-23 - 2023-05-23 - G06T7/33
  • 本发明公开了一种基于红外图像处理的电力设备异常发热检测方法和系统,其涉及电力设备安全技术领域。该方法包括:采用SURF算法分别对红外成像和可见光图像对应的电力设备轮廓信息进行特征点提取;采用KD树和K‑NN算法对红外成像和可见光图像对应的特征点进行匹配;采用RANSAC算法选取稳定特征点对并求解出最优仿射变换矩阵;根据最优仿射变换矩阵对红外成像进行仿射变换,使红外成像内物体形状与可见光图像内物体形状一致,建立可见光图像与红外成像的像素对应关系;检测红外成像中每个电力设备是否异常发热。该方法可以快速准确获得配准结果,并快速准确地在一张红外图像中对多个电力设备异常发热情况进行检测。
  • 基于红外图像处理电力设备异常发热检测方法系统
  • [发明专利]图像处理方法、装置及设备-CN202210544734.0在审
  • 段炼;周波;苗瑞;陈永刚;邹小刚 - 深圳市海清视讯科技有限公司
  • 2022-05-19 - 2022-08-30 - G06T1/00
  • 本申请提供一种图像处理方法、装置及设备,该方法包括:获取可见光图像,以及所述可见光图像对应的第一成像;根据所述可见光图像和所述第一成像,在所述可见光图像中获取多个区域图像,所述区域图像的积分图密度与所述可见光图像的积分图密度的差值的绝对值小于或等于第一阈值;根据所述多个区域图像和所述可见光图像,确定所述可见光图像中每个像素点对应的目标距离,所述目标距离为所述像素点对应的拍摄对象与拍摄设备之间的距离;根据所述目标距离,对所述第一成像进行更新,得到第二成像提高热成像的显示准确度。
  • 图像处理方法装置设备
  • [发明专利]一种基于红外成像技术的监控方法及装置-CN201810142064.3有效
  • 李楠 - 浙江大华技术股份有限公司
  • 2018-02-11 - 2020-08-04 - H04N7/18
  • 一种基于红外成像技术的监控方法及装置,用以解决现有技术中的监控方法只能确定出异常的监控区域,并不能确定出发生异常的监控区域中触发异常的监控点。该方法包括:探测监控区域的红外辐射,确定监控区域对应的成像,监控成像中全部像素点的温度值,在成像中,确定满足预先设定的报警规则的温度值对应的异常像素点,并记录异常像素点在成像中的坐标值,将成像转换为第一灰度图,并在第一灰度图中根据坐标值以预设的颜色标识异常像素点,得到第二灰度图,使得用户可通过第二灰度图直观的查看监控区域对应的成像中的异常像素点,进而根据异常像素点确定监控区域中触发异常的监控点
  • 一种基于红外成像技术监控方法装置
  • [发明专利]一种缺陷深度检测方法-CN201910375549.1有效
  • 李伟;左宪章;席雷平;杨森;霍晓燕;毛琼;郑翌洁 - 中国人民解放军陆军工程大学
  • 2019-05-07 - 2021-06-01 - G06T7/00
  • 本申请适用于无损检测技术领域,提供了一种缺陷深度检测方法、终端设备及存储介质,其中,上述方法包括:获取原始成像序列,并对原始成像序列进行线扫描,生成线扫描图像;根据线扫描图像提取裂纹深度特征;根据裂纹深度特征确定原始成像序列中缺陷的深度。本申请实施例提供的缺陷深度检测方法、终端设备及存储介质,改变了现有技术采用静态检测对成像进行处理的方法,通过线扫描以及线扫描重建,得到成像序列对应的线扫描图像,实现了高效率的动态检测,能够在扫描图像中提取的裂纹深度特征中包含各个像素点的连续温度变化信息
  • 一种缺陷深度检测方法

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